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Serie Triax

Espectrógrafos de imagen de triple rejilla de distancia focal corta

Espectrógrafos de imagen de triple rejilla de distancia focal corta

La serie TRIAX utiliza ópticas correctivas especiales que mantienen una excelente calidad de imagen y resolución a lo largo de la rendija, así como a lo largo del eje de dispersión en el plano focal de salida. Así, una fuente puntual en la rendija de entrada se reimagina como un punto para cada aparición de su longitud de onda en el plano focal. Esto convierte a los instrumentos TRIAX en los espectrógrafos ideales para una amplia gama de aplicaciones de espectroscopía multicanal de alta resolución, tales como:

  • Absorción UV-NIR
  • Caracterización láser
  • Fluorescencia
  • Estudios atmosféricos
  • Caracterización de la fuente
Segment: Científico
Empresa de Fabricación:HORIBA Científico

Principales beneficios de los espectrómetros de la serie Triax:

  • Espectrómetro de triple rejilla de bajo coste
  • Diseño patentado de torreta de rejilla
  • Buena calidad de imagen
  • Espectrógrafo monocromador o de imagen
  • Puerto opcional de segunda salida (Triax 190)
  • Interfaz USB

Rejillas

Hay una amplia selección de rejillas para elegir según los requisitos ópticos.  Las rejillas miden 32 x 32 mm para el MicroHR. Hay tres tipos diferentes de rejillas disponibles; Regla clásica, holográfica y holográfica llameante. También se puede pedir un espejo plano para la opción de torreta de doble rejilla. Por favor, haz clic en el enlace de abajo para ver todas nuestras opciones de rejillas.

Rejillas de visión

Control por ordenador

Además del control de longitud de onda, la Serie Triax cuenta con un control automatizado opcional de torretas y control automático de la rueda interna de filtro de cinco posiciones opcional. Existen múltiples plataformas de software para el control y adquisición de espectrómetros. Por favor, haz clic en el enlace de abajo para ver todas nuestras opciones de software.

Ver software

Accesorios ópticos

La serie Triax es compatible con muchos accesorios ópticos para crear tu solución personalizada.  Por favor, haz clic en el enlace de abajo para ver algunos de nuestros accesorios ópticos.

Ver accesorios

 

Presupuesto
Distancia focal0,19 metros
Relación de apertura de entradaf/3.9
Tamaño de la rejilla50 mm × 50 mm
Ampliación de imagen en la salida1.00
Rango de escaneo con rejilla de 1200 gr/mm0–1400 nm
Cobertura multicanal (más de 30 mm)106 nm con rejilla de 1200 gr/mm
Plano focal30 mm de ancho × 12 mm de alto
Dispersión espectral con rejilla de 1200 gr/mm3,53 nm/mm
Resolución espectral como monocromador de barrido con rejilla de 1200 gr/mm0,3 nm
Precisión de posicionamiento en longitud de onda± 0,3 nm
Repetibilidad en longitud de onda± 0,06 nm
Tamaño de paso de accionamiento de longitud de onda para rejilla de 1200 gr/mm0,06 nm
Dimensiones10,5" (Ar) x 9,25" (Ancho) x 7,35" (Alto)
26,7 cm (D) x 23,5 cm (V) x 18,7 cm (H)
Peso (aprox.)25,4 lbs (11,5 kg)

*Todas las especificaciones con rejilla de 1200 gr/mm, matriz con píxeles de 26 micras
** 400 nm
Especificaciones sujetas a cambios sin previo aviso.

Raman y espectroscopía Raman por resonancia de enzimas
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Los espectrómetros de las series TRIAX e iHR utilizados en configuraciones de sistemas Raman ofrecen un rendimiento de imagen superior sin luz redifractada y un rendimiento óptico máximo.
Fotoluminiscencia y fotoreflectancia
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Como resultado del rápido desarrollo en la fabricación de semiconductores, muchos tipos de dispositivos optoelectrónicos como diodos láser, LEDs y transistores de alta movilidad electrónica (HEMT) se fabrican ahora mediante métodos de crecimiento epitaxial.
Fotoluminiscencia de semiconductores
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La espectroscopía de fotoluminiscencia (PL) es un potente método óptico utilizado para caracterizar materiales. El PL puede utilizarse para encontrar impurezas y defectos en semiconductores de silicio y elementos del grupo III-V, así como para determinar las bandas prohibidas de los semiconductores.

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