Aplicaciones

Análisis AFM-Raman Colocalizado de Heteroestructuras de Materiales 2D

Caracterización topográfica, eléctrica y química verdadera colocalizada de heteroestructuras de Van der Waals

Análisis AFM-Raman Colocalizado de Heteroestructuras de Materiales 2D

Esta nota de aplicación informa sobre mediciones AFM-Raman colocalizadas de heteroestructuras verticales de Van der Waals de materiales 2D: hBN/grafeno/ WSe 2 y compuerta de grafito/hBN/grafeno bicapa/hBN. Los datos topográficos, de diferencia de potencial de contacto y Raman se generan en la misma ubicación con la misma punta utilizando un microscopio AFM-Raman totalmente integrado, el nuevo SignatureSPM.

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