SmartSPM Escáner y base

Rango de escaneo de muestras: 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)

Tipo de escaneo por muestra: XY no linealidad 0,05 %; No linealidad Z 0,05 %

Ruido: 0,1 nm RMS en dimensión XY en ancho de banda de 200 Hz con sensores de capacitancia activados; 0,02 nm RMS en dimensión XY en ancho de banda de 100 Hz con sensores de capacitancia desactivados; < Sensor de capacitancia RMS Z de 0,04 nm en ancho de banda de 1000 Hz

Frecuencia de resonancia: XY: 7 kHz (sin carga); Z: 15 kHz (sin carga)

Movimiento X, Y, Z: Control digital en lazo cerrado para los ejes X, Y y Z; Alcance de aproximación motorizado en Z: 18 mm

Tamaño de muestra: máximo 40 x 50 mm, grosor 15 mm

Posicionamiento de la muestra: Rango motorizado de posicionamiento de muestras 5 x 5 mm

Resolución de posicionamiento: 1 μm

Director de AFM

Longitud de onda láser: 1300 nm, sin interferir con el detector espectroscópico

Alineación: Alineación totalmente automatizada de voladizo y fotodiodo

Acceso a la sonda: Acceso gratuito a la sonda para manipuladores y sondas externas adicionales

Modos de medición SPM

Contacta con AFM en aire/(líquido opcional); AFM semicontacto en aire/(líquido opcional); AFM sin contacto; Imagen de fase; Microscopía de Fuerza Lateral (LFM); modulación de fuerza; AFM conductor (opcional); Microscopía de Fuerza Magnética (MFM); Sonda Kelvin (Microscopía de Potencial de Superficie, SKM, KPFM); Microscopía de Capacitancia y Fuerza Eléctrica (EFM); medición de curvas de fuerza; Microscopía de Fuerza de Respuesta Piezoeléctrica (PFM); Nanolitografía; Nanomanipulación; STM (opcional); Mapeo de Fotocorriente (opcional); Mediciones de características de voltio-amperio (opcionales)

Modos de espectroscopía

Raman confocal, imagen y espectroscopía de fluorescencia y fotoluminiscencia

Espectroscopía Raman mejorada con punta (TERS) en modos AFM, STM y fuerza de corte

Fotoluminiscencia Mejorada con Punta (TEPL)

Microscopía y Espectroscopía de Barrido Óptico de Campo Cercano (NSOM/SNOM)

Unidad AFM conductora (opcional)

Rango de corriente: 100 fA ÷ 10 μA; 3 rangos de corriente (1 nA, 100 nA y 10 μA) conmutables desde el software

Acceso óptico

Capacidad para usar simultáneamente el apocromatismo del plan superior y lateral objetivo: Hasta 100x, NA = 0,7 desde arriba o lateral; Hasta 20x y 100x simultáneamente

Escáner piezoobjetivo de lazo cerrado para alineación láser espectroscópica ultra estable a largo plazo: rango 20 μm x 20 μm x 15 μm; Resolución: 1 nm

Espectrómetro

Microespectrómetros compactos XploRA Plus totalmente automatizados, funcionales como microscopio micro-Raman independiente

Rango de longitudes de onda: 60 ^cm-1 a 4000 ^cm-1 

Rejillas: 4 rejillas en torreta controlada por ordenador (600, 1200, 1800 y 2400 g/mm)

Automatización: Operación totalmente motorizada y controlada por software

Detección

Gama completa de detectores CCD y EMCCD.

Fuentes láser

Longitud de onda típica: 532 nm, 638 nm, 785 nm.

Automatización: Operación totalmente motorizada y controlada por software

Software

Paquete de software integrado que incluye SPM, espectrómetro y control de adquisición de datos, suite de análisis y procesamiento de datos espectroscópico y SPM, incluyendo ajuste espectral, deconvolución y filtrado; módulos opcionales incluyen una suite de análisis univariante y multivariante (PCA, MCR, HCA, DCA), detección de partículas y funcionalidades de búsqueda espectral.