Aplicaciones

Análisis AFM-Raman colocalizado del grafeno

Caracterización topográfica, eléctrica y química verdadera colocalizada de escamas de grafeno exfoliadas

Análisis AFM-Raman colocalizado del grafeno

Esta nota de aplicación informa sobre mediciones AFM-Raman verdaderamente colocalizadas de escamas de grafeno exfoliadas en SiO 2 /Si. Los datos topográficos, de diferencia de potencial de contacto y Raman se obtienen en la misma ubicación con la misma punta utilizando un microscopio AFM-Raman totalmente integrado, el nuevo SignatureSPM.

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