Microscopio de sonda de barrido con firma química
SignatureSPM es el primer microscopio construido sobre una plataforma de caracterización multimodal, integrando un microscopio automatizado de fuerza atómica (AFM) con un espectrómetro Raman/fotoluminiscencia, lo que permite mediciones verdaderamente colocalizadas de propiedades físicas y químicas.
A través del conocimiento físico y químico combinado obtenido en una única medición en tiempo real, el investigador puede obtener un análisis fiable y completo de la muestra, con un tiempo de conocimiento reducido debido a un menor manejo de la muestra y una adquisición de datos con un alto nivel de confianza, gracias a la correlación de las mediciones de diferencias.
Todos los modos AFM incluidos de serieTodos los modos AFM están incluidos en el paquete básico de SignatureSPM: Microscopía de Sonda Kelvin, Microscopía de Fuerza de Respuesta Piezoeléctrica, Microscopía de Fuerza Magnética, Nanolitografía, Mediciones de Curvas de Fuerza. |
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Espectrómetro de amplio alcance optimizado para Raman y fotoluminiscenciaDiseñado para imágenes espectrológicas, el espectrómetro del SignatureSPM garantiza una pérdida mínima de luz gracias a su diseño acromático y a una impresionante reflectividad del 95%. Proporciona una capacidad única para realizar mediciones Raman y PL precisas y eficientes gracias a su diseño versátil que puede acomodar hasta 3 redes para cubrir un amplio rango espectral. |  |
Mediciones verdaderamente colocalizadas con "Probe away"El comando de software "Probe away" mueve el voladizo lejos de la superficie de la muestra para que se puedan obtener mapas Raman confocales totalmente desobstrucidos. Con el comando "Probe back", la punta AFM volverá automáticamente a su punto de análisis anterior en la superficie de la muestra. |  |
Vía directa hacia el ápice del voladizo con alto acceso ópticoLas vías ópticas para AFM y espectroscopía están completamente separadas. |  |
AFM para escaneos de gran tamaño y resolución molecularEl SignatureSPM ofrece un rendimiento AFM excepcional con estabilidad y velocidad, gracias a su escáner de rango de 100 x 100 x 15 micras. Logra grandes escaneos y resolución molecular, priorizando la estabilidad mediante un tiempo de respuesta rápido, bajo ruido, baja deriva y trazabilidad metrológica. |  |
Ajuste rápido y repetible del voladizoEl intercambio de puntas sin interrupciones puede realizarse independientemente del operador y con una reproducibilidad inigualable. Cuando se reemplaza el voladizo, el mismo punto en la superficie de la muestra puede encontrarse fácilmente y escanearse sin pasos adicionales de búsqueda (con unos pocos micras de repetibilidad). |  |
Ajuste automático del sistema de registro AFMLa alineación totalmente automatizada del láser, voladizo y fotodiodo está diseñada para una integración fluida con espectroscopía óptica, eliminando la necesidad de intervención del usuario. |  |
No hay interferencias entre las mediciones láser AFM y espectroscópicasEl diodo láser AFM infrarrojo no interfiere con los láseres de excitación Raman/PL visibles y elimina cualquier influencia parasitaria sobre muestras biológicas, semiconductoras y fotovoltaicas sensibles a la luz visibles. |  |
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AFM-Raman para imágenes físicas y químicas
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