GDOES es una técnica analítica que proporciona un análisis ultrarrápido del perfil de profundidad elemental de materiales en capas, ofreciendo simultáneamente la medición cuantitativa de todos los elementos y grosores con resolución en profundidad nanométrica. Los instrumentos GDOES RF pulsados de HORIBA, con Perfilado de Interferometría Diferencial (DiP), son las herramientas complementarias ideales para la investigación de materiales y la elaboración de procesos.
La innovadora fuente de RF pulsada permite el perfilado de todo tipo de muestras sólidas con un rendimiento óptimo, desde el primer nanómetro hasta más de 150μm. Los materiales poliméricos se pulverizan fácilmente con el patentado Ultra Fast Sputtering (UFS). Además, esta fuente también puede utilizarse para preparar superficies de muestra para la Microscopía Electrónica de Barrido (SEM).
Se pueden medir todos los elementos, incluyendo hidrógeno, deuterio, litio, carbono, nitrógeno, oxígeno y más.
El patentado Perfilado por Interferometría Diferencial (DiP) permite la medición directa de la profundidad en función del tiempo, con precisión nanométrica, que se realiza simultáneamente con el análisis de DG.
Los detectores de alto rango dinámico patentados (HDD) utilizados en todos HORIBA instrumentos GD permiten optimización automática en tiempo real de la sensibilidad, analizar elementos a niveles de traza en una capa y, de forma importante, en una segunda capa sin compromisos ni necesidad de hacer ajustes.
Webinaire en français / Webinar in French
Ce webinar souligne l’importance croissante de la caractérisation des surfaces dans l’industrie en raison du rôle déterminant de la composition superficielle sur les propriétés d’usage des matériaux. La Spectrométrie à Décharge Luminescente (SDL), ou GDOES, s’est imposée comme un outil particulièrement performant pour la caractérisation des couches d’oxydes et produits de corrosion et pour mettre en évidence la fragilisation par l’hydrogène.
En savoir plusThis application note demonstrates the use of pulsed RF GD-OES for nanometric depth profiling of (Al,Ga)N quantum wells and quantum dots. The technique supports process optimization and quality control of layer thickness and composition in advanced UV optoelectronic structures.
Leer másComprender cómo y por qué las baterías se degradan con el tiempo es esencial para mejorar el rendimiento del diseño y del ciclo de vida.
En este seminario web, explora el enfoque de HORIBA para los estudios de envejecimiento utilizando μRaman, GD-OES y SEI para diagnósticos in situ y ex-situ. Observa cómo mapeamos el crecimiento SEI, detectamos la formación de óxidos y seguimos los cambios estructurales en los electrodos para predecir el descenso del rendimiento e informar mejores elecciones de materiales y procesos.
La cristalinidad y la estructura del material son claves para maximizar la energía de la batería y la densidad de energía. Las herramientas μRaman y QCarbon de HORIBA ofrecen acceso directo a las relaciones de carbono ID/IG y a la uniformidad del recubrimiento, mientras que los GDOES revelan perfiles de profundidad elemental. Este seminario web te guía a través de técnicas esenciales de caracterización tanto para materiales basados en carbono como para cátodos, facilitando un mejor diseño y control de calidad para las baterías de próxima generación.
Míralo ahoraLos estudios de superficie e interfaz requieren técnicas analíticas complementarias, como GDOES y Raman, para proporcionar perfiles elementales e información molecular sobre múltiples capas de diversas profundidades. Este seminario web ilustra esta complementariedad mostrando resultados seleccionados sobre recubrimientos poliméricos, películas anódicas, baterías, recubrimientos sobre vidrio y recubrimientos DLC.
Míralo ahoraEn este seminario web, exploramos cómo las soluciones integradas de HORIBA, incluyendo la caracterización de partículas y MicroXRF, proporcionan una caracterización integral de materiales de carbono y polvos de cátodo. Mientras que los sistemas de difracción láser y sedimentación centrífuga analizan la distribución del tamaño y el estado de dispersión de partículas con alta precisión y una preparación mínima de la muestra, MicroXRF revela la composición elemental y las proporciones dentro de los electrodos a microescala.
Míralo ahoraGD-OES ofrece una forma de caracterizar la superficie de las capas inferiores analizando cráteres GD-OES usando Raman y μ-XRF, confirmando que no hay alteraciones de la superficie en recubrimientos orgánicos/inorgánicos complejos.
Leer másGD-OES proporciona un perfilado en profundidad rápido, uniforme y preciso de recubrimientos orgánicos utilizando plasma Ar/O₂, mejorando las capacidades de análisis multicapa.
Leer másLa combinación entre GD OES pulsado y XPS, especialmente para analizar interfaces embebidas, está generando interés en la comunidad de Surface. Mira este artículo de acceso abierto publicado en Coatings.
Lee el artículoDescubre el nuevo folleto del GD-Profiler 2™, nuestro espectrómetro óptico de emisión de descarga de radiación pulsada por brillo, con información sobre Perfilado de Interferometría Diferencial (DiP) y las últimas funcionalidades y aplicaciones.
Consigue el folletoEn este artículo se presentan las características de nuevos recubrimientos porosos fabricados a tres voltajes en electrolitos basados en H 3 PO 4 con tetrahidrato de nitrato de calcio, nitrato de magnesio hexahidrato y trihidrato de nitrato de cobre(II). Se utilizaron técnicas de SEM, espectroscopía dispersiva de energía (EDS), espectroscopía óptica de emisión de descarga luminosa (GDOES), espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) y técnicas de XRD para la identificación de recubrimientos.
Lee el artículoDesarrollamos una técnica de medición in situ implementada en un instrumento de Espectrometría de Emisión Óptica por Descarga Luminosa (GDOES), que proporciona la información de profundidad durante el proceso de perfilado. La configuración se basa en un interferómetro diferencial, y demostramos que se puede obtener una precisión de medición superior al 5% para profundidades de cráter que van desde 100 nanómetros hasta varias decenas de micrómetros. Este desarrollo puede aplicarse directamente a recubrimientos no transparentes y aporta una mejora significativa al proceso de cuantificación en GDOES.
Lee el artículoCon su eficiencia de ~20 %, las células solares híbridas de perovskita son el nuevo candidato prometedor para la próxima generación de fotovoltaicos. Gracias a la amplia cartera de HORIBA Scientific, se pueden utilizar diferentes técnicas para adquirir un conocimiento profundo sobre las propiedades y mecanismos optoelectrónicos de esta clase de materiales. En esta nota de aplicación decidimos utilizar elipsometría espectroscópica, fluorescencia en estado estacionario y resolución temporal, y espectroscopía de emisión óptica por descarga luminosa para investigar las propiedades de las películas delgadas CH3NH3PbI3 depositadas sobre un PEDOT:PSS recubierto de espín. Se abordó el impacto de la exposición al aire.
Leer másLa espectrometría de emisión óptica de descarga fluorescente por RF pulsada ofrece una capacidad ultrarrápida de perfilado en profundidad elemental para la investigación de películas delgadas y gruesas. Gracias al uso de una fuente de RF pulsada, junto con un espectrómetro óptico de alta resolución, el GD Profiler 2 proporciona una excelente resolución de profundidad, permitiendo una evaluación rápida de la calidad del recubrimiento. En esta nota de aplicación, nos centramos en una muestra compuesta multicapa MoS2/Pb, utilizada como lubricante sólido. El análisis de dicha muestra el excelente rendimiento de este instrumento para el estudio de recubrimientos complejos de grosor nm.
Leer más
Espectrómetro de emisión óptica de descarga luminosa por radiofrecuencia pulsada
Tiene alguna pregunta o solicitud? Utilice este formulario para ponerse en contacto con nuestros especialistas.
