La fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica de análisis elemental no destructiva para identificar qué elementos están contenidos y determinar cuánta concentración de esos elementos hay en un material a partir de las señales de rayos X de fluorescencia emitidas por un material.
Entre los analizadores XRF, los analizadores de fluorescencia de rayos X (EDXRF) dispersivos por energía son más adecuados para el análisis de cribado en una amplia variedad de aplicaciones de muestras gracias a su enfoque no destructivo, detección de múltiples elementos, menor preparación de la muestra y menor tiempo de medición.
HORIBA tiene una larga historia en tecnologías de rayos X desde 1956 y hemos desarrollado continuamente analizadores XRF con método de dispersión de energía. HORIBA analizadores XRF se han utilizado ampliamente en diversos campos: pilas de combustible, baterías de iones de litio, farmacéutico y otros sectores industriales para detectar materia extraña y desarrollar nuevos materiales, así como en astrogeología, arqueología, forense y otros campos de investigación para realizar análisis no destructivos sobre muestras valiosas.