La configuración de microscopio invertido en eje es ideal para muestras transparentes: permite el uso de objetivos de apertura numérica (NA) muy alta para la imagen confocal Raman.
Existen dos configuraciones diferentes para el acoplamiento óptico TERS: una en transmisión y otra en reflexión. La propia configuración de reflexión puede dividirse en configuraciones de acoplamiento "superior" y "lateral", cada una con sus propias ventajas y desventajas.
La configuración de microscopio invertido en eje es ideal para muestras transparentes: permite el uso de objetivos de apertura numérica (NA) de muy alta apertura, incluidos objetivos de inmersión en aceite, para la imagen confocal Raman.
El espacio sobre la muestra está libre para experimentos de SPM, incluyendo Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), Microscopía de Túnel de Barrido (STM) y otros modos comunes de SPM, en aire, líquido o en entornos especiales.
Esta configuración permite la imagen simultánea de SPM y Raman confocal, y ofrece el mejor rendimiento espectroscópico para la dispersión Raman mejorada con punta (TERS) de muestras transparentes mediante el uso de una polarización radial en el haz láser.
La configuración vertical permite mediciones simultáneas de SPM y Raman espectroscópicas cuando se utilizan puntas salientes y objetivos de alto NA (hasta 0,7 NA).
La configuración vertical permite mediciones simultáneas de SPM y Raman espectroscópico (incluyendo TERS) cuando se utilizan puntas sobresalientes (puntas triangulares AFM en el extremo extremo del voladizo) y objetivos de alto nivel de alta precisión (hasta 0,7 NA). La imagen SPM con una selección más amplia de sondas, y la imagen confocal Raman con objetivos de NA muy altos (hasta 0,95 NA) también pueden realizarse secuencialmente en el mismo lugar. Esta configuración está optimizada para mediciones de alta resolución en co-localización en muestras opacas, pero también permite mediciones TERS con puntas salientes.
La iluminación oblicua está diseñada para experimentos Raman mejorados con punta con una gran variedad de sondas SPM en muestras opacas.
La iluminación oblicua está diseñada para experimentos Raman mejorados con punta con una gran variedad de sondas SPM en muestras opacas.
La configuración integra un objetivo de larga distancia de trabajo de alto NA (hasta 0,7 NA) en un ángulo óptimo (60°). Coloca el haz láser en la punta con una orientación de polarización ideal para amplificación TERS (p-polarización) y asegura la máxima eficiencia de la recogida eliminando sombras del voladizo de la sonda de barrido.
Esta configuración está optimizada para TERS (imagen de campo cercano) en muestras opacas. También permite la imagen simultánea de AFM y Raman confocal; sin embargo, la geometría limita inherentemente la resolución espacial en campo lejano, que se consigue mejor con la configuración vertical.
Configuración óptica multipuerto para AFM-Raman y TERS:
HORIBA sistemas AFM-Raman ofrecen la versatilidad de combinar estas diferentes configuraciones ópticas. Por ejemplo, una configuración de doble puerto con iluminación oblicua optimizada para TERS y microscopio vertical para imágenes espectroscópicas de campo lejano de alta resolución ofrece el mejor rendimiento tanto para mediciones secuenciales colocalizadas como para TERS en muestras opacas.
Otro tipo de sistema de doble puerto con iluminación cenital y capacidad invertida proporciona una plataforma para mediciones TERS y colocalizadas de muestras opacas y transparentes.
Y por último, una configuración de triple puerto reúne todas las configuraciones posibles en una plataforma única y ofrece el sistema más versátil para optimizar capacidades.
