La configuración de transmisión permite el uso de los objetivos de mayor apertura numérica (NA), pero solo puede usarse para muestras transparentes. La configuración de reflexión puede usarse para cualquier tipo de muestras (opacas y transparentes), pero está limitada a objetivos de menor NA.
TERS (Espectroscopía Raman Mejorada por Punta) lleva la espectroscopía Raman a imágenes de resolución nanométrica 1-6. TERS es una técnica química de superresolución. Mejor aún, es una técnica de imagen súper resolución sin etiqueta que ha sido ampliada por nuestra novedosa tecnología hasta convertirse en una tecnología de imagen importante.
TERS imágenes se realizan con un sistema AFM-Raman, donde un microscopio de sonda de barrido (SPM que puede usarse en modo de fuerza atómica, túnel de barrido o normal/fuerza de corte) se integra con un espectrómetro Raman confocal mediante un acoplamiento optomecánico. El microscopio de sonda de barrido permite la obtención de imágenes a escala nanométrica, el acoplamiento óptico lleva el láser de excitación a la punta funcionalizada (o sonda), y el espectrómetro analiza la luz Raman (o de otro modo dispersada) proporcionando una imagen hiperespectral con contraste químico a escala nanométrica.
Un sistema TERS se basa en una punta metálica (generalmente de oro o plata) empleada para concentrar el campo de luz incidente en el vértice. La punta actúa como una fuente nano de luz y potenciador local del campo, mejorando considerablemente la sensibilidad Raman (por un factor de 10 3-10 7) y reduciendo el volumen sondeado a la región "nano" inmediatamente debajo de la punta. El acoplamiento óptico que combina ambos instrumentos utiliza un esquema confocal. Existen dos configuraciones diferentes para este acoplamiento: una en transmisión y otra en reflexión (Fig. 2), con sus propias ventajas e inconvenientes.
La configuración de transmisión permite el uso de los objetivos de mayor apertura numérica (NA) (incluidos los objetivos de inmersión), lo que proporciona una alta densidad de potencia en el punto de enfoque y permite la obtención de altos niveles de señal, pero solo puede usarse para muestras transparentes. La configuración de reflexión puede usarse para cualquier tipo de muestras (opacas y transparentes), pero está limitada a objetivos de menor NA. Combinando el escaneo punto por punto con la adquisición simultánea de espectro, se pueden realizar mapeos Raman de campo cercano con resolución lateral de hasta diez nanómetros o menos.
