La plataforma AFM permite el uso totalmente integrado de microscopía Raman confocal y AFM para espectroscopías ópticas mejoradas con punta (como la espectroscopía Raman mejorada con punta, TERS) y fotoluminiscencia mejorada con punta (TEPL)), pero también para mediciones AFM-Raman verdaderamente colocalizadas.
La multitud de técnicas AFM (Microscopio de Fuerza Atómica) que permiten el estudio de propiedades topográficas, eléctricas y mecánicas pueden realizarse con cualquier fuente láser disponible en espectrómetro Raman, o con otra iluminación externa (por ejemplo, simulador solar u otra fuente sintonizable o continua). TERS y TEPL pueden proporcionar información química y estructural a nanoescala, haciendo de la plataforma AFM-Raman una vía bidireccional; donde las técnicas complementarias proporcionan capacidades de imagen novedosas y únicas entre sí.
Observar la firma nanoRaman de una muestra mientras sufre modificaciones inducidas electroquímicamente puede revelar la apariencia local de especies transitorias y ofrecer la posibilidad de estudiar su cinética de formación.
Leer másExcitar y recopilar respuestas TERS en escamas delgadas WS2 con dos láseres enriquece simultáneamente su respuesta espectral y proporciona valiosos conocimientos sobre sus propiedades optoelectrónicas, reduciendo el tiempo total de adquisición y evitando cualquier variación en la mejora de la sonda.
Leer másLa espectroscopía Raman junto con la microscopía de fuerza atómica (AFM) permite una caracterización precisa a escala nanométrica de las capas que componen las células solares de película delgada, así como de la contaminación cruzada que ocurre en sus interfaces.
Leer másComprender cómo y por qué las baterías se degradan con el tiempo es esencial para mejorar el rendimiento del diseño y del ciclo de vida.
En este seminario web, explora el enfoque de HORIBA para los estudios de envejecimiento utilizando μRaman, GD-OES y SEI para diagnósticos in situ y ex-situ. Observa cómo mapeamos el crecimiento SEI, detectamos la formación de óxidos y seguimos los cambios estructurales en los electrodos para predecir el descenso del rendimiento e informar mejores elecciones de materiales y procesos.
TERS proporciona la información vibracional de una muestra con resolución nanométrica. Obtener información fisicoquímica con tal resolución abre posibilidades para caracterizar materiales a niveles sin precedentes, lo que permite hallazgos de investigación no sospechados hasta hace poco. Esta conferencia introduce los fundamentos de la TERS a través de la historia de la óptica espectroscópica de campo cercano.
Míralo ahoraEn este seminario web, se discutirán varios desarrollos emocionantes en el campo de la espectroscopía Raman mejorada con punta (TERS), incluyendo la dependencia no trivial de la longitud de onda de excitación del modo gap TERS la respuesta de dichalcogenios de metales de transición (TMDs) sobre plata, lo que llevó a reconsiderar el papel de los efectos de resonancia y el fuerte acoplamiento óptico en TERS y un descubrimiento completamente inesperado de las bandas Raman normalmente prohibidas en TERS espectros de la monocapa h-BN sobre oro causado por la proximidad de la monocapa TMD a múltiples capas exfoliadas encima...
Míralo ahoraLa combinación de la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) y la espectroscopía Raman proporciona una visión profunda de las complejas propiedades de diversos materiales. Mientras que la espectroscopía Raman facilita la caracterización química de compuestos, interfaces y matrices complejas, ofreciendo conocimientos cruciales sobre estructuras y composiciones moleculares, incluyendo contaminantes a microescala y materiales traza. AFM proporciona datos esenciales sobre topografía y propiedades mecánicas, como la textura superficial, la adhesión, la rugosidad y la rigidez a nanoescala.
Míralo ahoraEl crecimiento de la industrialización de materiales semiconductores requiere tecnologías para caracterizar sus propiedades. Las plataformas microespectroscópicas ópticas como los microscopios Raman ofrecen información tanto física como química en un solo sistema. Así, la calificación del proceso, la evaluación de uniformidad de las obleas o la inspección de defectos de las obleas pueden lograrse mediante microscopía Raman. Estos también pueden aplicarse a la caracterización de nuevos materiales.
En este seminario web, destacaremos cómo la fotoluminiscencia y las microscopas Raman pueden abordar los desafíos de los semiconductores. También mostraremos cómo la combinación de microespectroscopías con AFM (Microscopía de Fuerza Atómica) puede proporcionar una resolución nano y una comprensión más profunda de estas estructuras.
Míralo ahoraCaracterización topográfica, eléctrica y química verdadera colocalizada de escamas de grafeno exfoliadas
El grafeno, una única capa de átomos de carbono dispuestos en una red bidimensional en panal, presenta propiedades eléctricas, térmicas y mecánicas notables, lo que lo convierte en objeto de extensa investigación en diversos campos científicos.
Leer másCaracterización topográfica, eléctrica y química verdadera colocalizada de heteroestructuras de Van der Waals
Las heteroestructuras de van der Waals, con sus propiedades únicas derivadas del débil acoplamiento de capa intermedia y la fuerte unión en plano, ofrecen oportunidades emocionantes para el diseño de materiales novedosos con propiedades electrónicas, ópticas y mecánicas adaptadas.
Leer másTERS caracterización de nanotubos lipídicos pirolíticos para la fabricación de nanoelectrodos
Durante treinta años se ha realizado una investigación centrada en la carbonización de estructuras 3D, especialmente para su uso en aplicaciones electrónicas. Estas estructuras se preparan con la ayuda de litografía y luego se pirolisan. Para fabricar características por debajo de 100 nm, se intenta un enfoque ascendente utilizando nanotubos de lípidos.
Leer másImagen química a nanoescala de Ti₃C₂Tₓ MXene de una sola a pocas capas
MXenes es el material 2D más grande y de más rápido crecimiento. Tienen propiedades únicas como buena conductividad y una superficie hidrofílica. El control de la composición a nanoescala permitiría finalmente obtener propiedades de ingeniería localmente, obteniendo un mayor control sobre los sistemas bidimensionales basados en materiales.
Leer másTERS Nanolocalización de puntos calientes SERS
La dispersión Raman mejorada en superficie (SERS) es una potente técnica analítica basada en plasmónica para la biodetección. El efecto SERS depende de nanoestructuras que deben diseñarse para maximizar los factores de mejora y la especificidad molecular. Además de la modelización numérica, una herramienta analítica capaz de obtener imágenes de mejora localizada sería un valor añadido.
Leer másImagen química hiperespectral no destructiva y sin marcadores de bicapas fosfolípidas con resolución espacial de 7 nm
Las bicapas fosfolípidas, constituyentes principales de las membranas, actúan como barrera de permeabilidad selectiva para las nanopartículas que ahora se adentran en gran medida en nuestro entorno. Estudiar las interacciones entre nanopartículas y membranas celulares requiere una sonda química molecular con capacidad de resolución nanométrica.
Leer másLa aparición de memristores orgánicos se ha visto obstaculizada por una pobre reproducibilidad, durabilidad, estabilidad, escalabilidad y baja velocidad de conmutación. Conocer el mecanismo principal de impulso a escala molecular será la clave para mejorar la robustez y fiabilidad de estos dispositivos de base orgánica.
Leer másAFM-Raman y su modo TERS se utilizan para mostrar el mapeo superficial a nanoescala de defectos estructurales y grupos químicos en escamas de óxido de grafeno (GO) con resolución espacial de 10 nm. TERS mapeo se combina con mediciones de microscopía de fuerza de sonda Kelvin para imágenes topográficas, electrónicas y químicas simultáneas de la superficie GO. La metodología de medición multiparámetro propuesta en esta nota amplía la capacidad de TERS permitiendo una correlación directa de la composición química local y las propiedades físicas a nanoescala, no solo para materiales 2D sino para casi cualquier superficie de muestra.
Leer másEsta nota de aplicación revela los detalles instrumentales clave para tener éxito en TERS mediciones en líquidos utilizando la geometría de iluminación/recogida lateral. Esta capacidad busca lograr avances en muchas aplicaciones como la catálisis heterogénea, la electroquímica, la biología celular y los biomateriales. En esta nota, se demuestra la imagen química a nanoescala de escamas de óxido de grafeno y nanotubos de carbono sumergidos en agua con una resolución TERS hasta 20 nm, junto con imágenes reales sin contacto AFM.
Leer másAhora surge una nueva preocupación por la salud humana debido a las partículas de menos de 23 nm emitidas por vehículos de carretera. Más allá de medir el número y la masa de partículas, también es fundamental determinar la composición química superficial de las nanopartículas para comprender la posible reactividad con el entorno.
Leer másEsta nota de aplicación informa sobre la nano-caracterización de materiales dichalcogenios de metales de transición 2D (TMDCs), considerados de semiconductores de muy alto potencial para futuros dispositivos electrónicos y optoelectrónicos de nanotamaño. La microscopía de sonda de barrido, que permite acceder a las propiedades topográficas y electrónicas críticas a nanoescala, se acopla a la fotoluminiscencia (PL) y a las espectroscopías Raman mediante la mejora del plasmón para obtener información eléctrica y química correlacionada hasta la nanoescala.
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Microscopio de sonda de barrido con firma química
Nanoscopía correlativa en tiempo real y correlativa directa
AFM-Raman para imágenes físicas y químicas
AFM-Raman para imágenes físicas y químicas
La plataforma óptica AFM
AFM avanzado independiente
Acoplamiento óptico AFM versátil
AFM y microscopía de luz invertida
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