HORIBA의 XGT 시스템은 고성능 에너지 분산형 X선 형광(EDXRF)을 제공합니다. 특허받은 XGT(X-Ray Guide Tube) 기술은 기존의 X-Ray 형광법과 작은 스폿 분석을 결합합니다. 직경이 3mm에서 10μm에 이르는 고강도 X선 빔은 X선 형광 분석기에 다목적 분석 기능을 제공합니다. 개별 미세 입자에서도 완전한 정성 및 정량적 원소 분석이 가능하며, 매핑 분석은 상세한 원소 분포 이미지를 제공합니다.
HORIBA의 X선 형광 기술의 혜택을 받는 응용 분야로는 포렌식, 지질학, 재료, 생물학/의학, 전자공학, 고고학, 엔진 마모 분석, 제약학, RoHS/ELV 컴플라이언스 테스트가 있습니다.
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Read moreμ-XRF is a non-destructive analytical technique which can inspect defects, even non-visible ones, inside a sample because of the high penetration of X-rays. This application note introduces failure analysis to detect ion migration, voids, and foreign matter on electronics using the XGT-9000, with key features of the vertical irradiation of a 10 μm probe and the simultaneous imaging of fluorescent X-rays and transmission X-rays.
Read moreSpectroscopic analysis can reveal the origin of cultural heritages and the historical background at the time. This application note introduces research of a dragonfly eye bead found in a tomb in China. Using Raman spectroscopy and X-ray analytical microscopy, the bead was found to be from the Eastern Mediterranean region and the result suggested China had cultural and economic exchanges with them during that era.
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