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Medición rápida de grosores de recubrimientos metálicos finos mediante Micro-XRF
La naturaleza penetrante del análisis EDXRF permite caracterizar muestras multicapa con una sola medición. Con alta resolución espacial, incluso características microscópicas como las almohadillas de unión en placas de circuito pueden ser analizadas para determinar la composición y el grosor de la capa.
Esquema de la configuración XGT5000 y la penetración del haz de rayos X.
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