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XGT-7200

Microscopio analítico de rayos X

El XGT-7200 representa una generación completamente nueva de microscopio XRF y abre el camino hacia una nueva era de la ciencia. Ofrece una fusión fluida entre las funciones de observación óptica y análisis elemental, revolucionando el mundo del microanálisis y estableciendo la micro-XRF como una herramienta rutinaria para los científicos investigadores y analíticos.

Características únicas del hardware garantizan que el sistema ofrezca versatilidad y flexibilidad para cada medida. La elección de dos tubos guía de rayos X controlados por software con diámetros que van desde un único 10 μm hasta 1,2 mm permite optimizar las condiciones para una variedad de mediciones, tanto micro como macro. De manera similar, con los únicos Modos de Vacío Dual es posible cambiar en segundos entre un modo de vacío total de alta sensibilidad y un modo de vacío localizado y versátil. Este último mantiene muestras a presión atmosférica mientras conserva sensibilidad a todos los elementos, desde el sodio hasta el uranio.

En cualquier configuración, la combinación inteligente de cámaras ópticas garantiza que la posición precisa de análisis pueda localizarse rápida y sencillamente.

Segment: Científico
Empresa de Fabricación:HORIBA, Ltd.

Software integrado para adquisición y análisis de datos y manejo de muestras

Rápidamente pasa de una vista de toda la muestra a la selección de la prueba de análisis.

Imágenes intuitivas de "clic y movimiento" de cámaras de baja y alta magnificación dentro de la cámara de muestra permiten definir la posición de análisis o el área de mapeo en cuestión de segundos.

 

Funciones de adquisición

Análisis de punto único y multipunto

Los análisis de punto único y los análisis multipunto automatizados permiten adquirir espectros de alta calidad ya sea desde una única posición o desde varios puntos definidos por el usuario a lo largo de la muestra. Los picos de los elementos se localizan y etiquetan automáticamente, y el análisis cuantitativo hasta niveles ppm puede realizarse utilizando el método de parámetros fundamentales (FPM), FPM con un solo estándar y calibración completa de la muestra estándar. También se pueden hacer cálculos de grosor sobre estructuras multicapa de nm y μm de espesor.

  • Punto único
  • Análisis de cuadrícula
  • Análisis de líneas
  • Análisis Multipunto
    • Usuario seleccionado
    • Archivo de coordenadas
  • Importación con referencia posicional [opción]
  • Imagen Mapeada Hiperespectral

 

Análisis de cartografía

Análisis de mapeo hiperespectral

El software de imagen SmartMap registra un espectro completo de EDXRF en cada píxel de la imagen del elemento, permitiendo la generación y comparación de imágenes de elementos tras la adquisición, así como la generación de espectro a partir de regiones definidas por el usuario en la imagen, con caracterización cualitativa y cuantitativa posterior.

La imagen por rayos X transmitidos proporciona una visión adicional sobre la estructura de una muestra, permitiendo que características invisibles a simple vista se hagan inmediatamente evidentes.

  • Visualización de imágenes de elementos
    Las imágenes de los elementos que se van a mostrar pueden seleccionarse durante y después de la adquisición. Las imágenes también pueden generarse a partir de ventanas espectrales definidas por el usuario.

  • Generación de imágenes compuestas RGB 
    Superponer imágenes elementales para permitir una comparación fácil de la distribución de elementos

  • Generación de espectro
    Genera el espectro medio a partir de una región definida por el usuario dentro de una imagen.

  • Análisis de líneas
    Mostrar múltiples perfiles de intensidad de elementos a lo largo de una región definida de una imagen.

  • Exportación de datos
    Las imágenes de los elementos pueden exportarse en formatos de datos o imágenes. Todo el datacubo hiperespectral puede exportarse en formato RAW.

 

Análisis de espectro

  • Auto-ID de pico
  • Modos cuantitativos
    • FPM
    • FPM + Estándar Único
    • Calibración
  • Superposición y comparación de espectro
  • Espesor multicapa
  • Adaptación espectral

Las características únicas del XGT-7200 han hecho que este innovador analizador micro-XRF sea ampliamente adoptado para una variedad de aplicaciones, incluyendo electrónica, análisis de desgaste de motores, ciencia forense, geología, mineralogía, farmacéutica, museos, metalurgia, biología, medicina y arqueología.

El sistema flexible XGT-7200 micro-XRF abarca desde el análisis macro, para un estudio general de un área amplia, hasta la inspección de un área micro específica, con imágenes simultáneas de XRF y transmisión. Sus numerosas características garantizan un análisis de alto rendimiento con fácil funcionamiento.

  • Máxima resolución espacial

    La tecnología única de tubos guía de rayos X de HORIBA proporciona el análisis micro-XRF de mayor resolución espacial, con diámetros de haz de rayos X de hasta 10 μm. Los haces ultraestrechos y de alta intensidad proporcionados por los tubos guía permiten un análisis rápido y no destructivo de características microscópicas.
     
  • Imagen mapeada por rayos X por transmisión

    En combinación con la imagen XRF, el XGT-7200 permite adquirir imágenes de rayos X transmitidas. Esto puede utilizarse para realizar análisis estructurales internos e identificar regiones de interés no visibles a simple vista. El escaneo se realiza con un haz perpendicular estrecho, lo que da lugar a imágenes penetrantes claras incluso para muestras no planas, como partes cilíndricas.
     
  • Modos duales de vacío

    El sistema XGT-7200 ofrece al usuario modos de vacío dual únicos para el análisis de muestras: cambiar entre ambos modos lleva solo unos segundos. En modo de vacío total, toda la cámara de muestra está sometida a condiciones de vacío para asegurar la máxima sensibilidad a los elementos ligeros. En modo de vacío parcial, la muestra se mantiene a presión atmosférica mientras se dibuja vacío alrededor del detector y la óptica capilar. Este modo es ideal para el análisis de agua que contiene muestras como tejido biológico y objetos arqueológicos o museísticos frágiles.
     
  • Rango completo de tamaños de muestra

    La cámara de muestra acomodada permite analizar una amplia gama de muestras, desde un análisis puntual de 10 μm sobre una característica microscópica hasta análisis cartografiados de áreas de hasta 10 cm x 10 cm.
     
  • Software integrado de adquisición y análisis de datos

    El software intuitivo permite un control fácil del hardware del instrumento, visualización rápida de muestras y selección de la región de medición, y un análisis completo de datos. Las funciones incluyen identificación automática de picos, mediciones cuantitativas, generación de imágenes compuestas RGB y análisis de perfiles lineales.

Especificaciones XGT-7200

Elementos: Na to U

Tubo de rayos X: Objetivo Rh / Voltaje del tubo 50kV / Corriente del tubo 1mA

Detector de rayos X fluorescente: Detector de deriva de silicio refrigerado Peltier (SDD)

Detector de rayos X transmitido: centelleador Nai(Tl)

Tubo guía de rayos X: Mono capilar 10μm / 100μm sin filtro

Imagen óptica: imagen óptica de muestra completa e imagen con aumento coaxial

Tamaño de la etapa de muestra: XY: 100mm×100mm

Cámara de muestra: modelo de cámara de vacío / máximo 300mm×300mm×80mm en vacío

Procesamiento de señales: Procesador digital de pulsos (unidad INCA )

Análisis cualitativo: Identificación automática / Marcador KLM / Búsqueda máxima / Espectro de comparación

Análisis cuantitativo: FPM no estándar / FPM estándar / Coincidencia de archivos estándar FPM / Curva de calibración / FPM multicapa (medidor de grosor) / Análisis multipunto (Max5000) / Resultado multipunto enviado a Excel / vista espectral XGT-5000

Función de mapeo: Imagen de rayos X transmitida / Imagen elemental / Mapeo de espectro / Mapeo de rectángulos / Generar espectro / Composición RGB / Generador de escalas / Análisis de líneas

Otra función: Es posible iniciar el software XGT-5200 simultáneamente.

Esquemas

Análisis de metales de desgaste y elementos aditivos.
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Análisis micro-XRF para residuos metálicos y análisis de partículas
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El análisis rápido de partículas metálicas microscópicas es una aplicación importante en ingeniería (por ejemplo, análisis de desgaste de motores). El escaneo micro-XRF y el análisis puntual de fragmentos específicos identifican su composición química.
Micro-XRF para análisis no destructivo de objetos museísticos y arqueológicos
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Se han analizado y asignado pigmentos utilizados en un antiguo manuscrito nepalí, y se ha investigado un antiguo ornamento funerario de vidrio para identificar los aditivos colorantes específicos utilizados.
Aplicaciones biológicas de la microscopía XRF
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Se ha investigado el efecto del zinc en la cicatrización de las úlceras gástricas: la imagen mapeada de muestras de tejido muestra evidencia de acumulación de zinc en el tejido ulcerado. En un estudio aparte, se ha analizado un otolito de pez ('hueso del oído') para revelar su composición elemental heterogénea y estructura física.
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Se identifican micronódulos de calcio dentro de las hojas de morera, y la imagen mapeada por XRF proporciona una correlación entre la concentración de nódulos y la edad de las hojas. En un estudio aparte, se investiga la absorción de contaminantes de elementos pesados por parte de las plantas, adquiriendo rápidamente imágenes de alta resolución para mostrar la distribución del plomo a través de la hoja.
Análisis elemental de granos individuales de arroz mediante microanálisis XRF
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Los granos individuales de arroz se analizan mediante micro-XRF para examinar el efecto del pulido de granos. La concentración de elementos minerales encontrados en un grano puede estar relacionada con el grado de pulido.
Análisis micro-XRF para la industria electrónica
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La combinación de la innovadora resolución espacial y sensibilidad del XGT-5000 lo convierte en el instrumento preferido para el análisis rápido de componentes electrónicos, ya sea para el análisis de elementos nocivos restringidos (la legislación 'sin plomo' de los EEE/RoHS), la resolución de problemas o la investigación y desarrollo.
Control de calidad y análisis de defectos en la industria electrónica utilizando micro-XRF
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Se describen la resolución de problemas y análisis de defectos de componentes incrustados en resinas opacas, tanto en componentes individuales como en placas de circuito completas. El análisis cuantitativo a nivel ppm es ideal para garantizar el cumplimiento de las directivas WEEE/RoHS.
Medición rápida de grosores de recubrimientos metálicos finos mediante Micro-XRF
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Un juguete de plástico se analiza para detectar la presencia de plomo en sus numerosos componentes. El análisis puntual muestra que las concentraciones de este elemento nocivo pueden alcanzar hasta el 0,3%. La imagen XRF permite caracterizar rápidamente su distribución por el juguete.
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Se ha demostrado que los experimentos de mapeo elemental de alta resolución espacial proporcionan un método útil de análisis de huellas dactilares en situaciones donde los métodos tradicionales tienen dificultades. Las huellas dactilares en papel brillante y tejidos finamente tejidos han sido tratadas químicamente y posteriormente fotografiadas.
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La imagen simultánea de rayos X por XRF y transmisión proporciona una valiosa información sobre la composición y estructura de las perlas. Esta información es vital para los funcionarios de aduanas, que pueden determinar rápidamente si las perlas son naturales, cultivadas o imitaciones.

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