SmartSPM Escáner y base

Rango de escaneo de muestras: 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)

Tipo de escaneo por muestra: XY no linealidad 0,05 %; No linealidad Z 0,05 %

Ruido: 0,1 nm RMS en dimensión XY en ancho de banda de 200 Hz con sensores de capacitancia activados; 0,02 nm RMS en dimensión XY en ancho de banda de 100 Hz con sensores de capacitancia desactivados; < Sensor de capacitancia RMS Z de 0,04 nm en ancho de banda de 1000 Hz

Frecuencia de resonancia: XY: 7 kHz (sin carga); Z: 15 kHz (sin carga)

Movimiento X, Y, Z: Control digital en lazo cerrado para los ejes X, Y y Z; Alcance de aproximación motorizado en Z: 18 mm

Tamaño de muestra: máximo 40 x 50 mm, grosor 15 mm

Posicionamiento de la muestra: Rango motorizado de posicionamiento de muestras 5 x 5 mm

Resolución de posicionamiento: 1 μm
 

Director de AFM

Longitud de onda láser: 1300 nm, sin interferir con el detector espectroscópico

Ruido del sistema de registro: Hasta < 0,1 nm

Alineación: Alineación totalmente automatizada de voladizo y fotodiodo

Acceso a la sonda: Acceso gratuito a la sonda para manipuladores y sondas externas adicionales
 

Modos de medición SPM

Contacta con AFM en aire/(líquido opcional); AFM semicontacto en aire/(líquido opcional); AFM sin contacto; Imagen de fase; Microscopía de Fuerza Lateral (LFM); modulación de fuerza; AFM conductor (opcional); Microscopía de Fuerza Magnética (MFM); Sonda Kelvin (Microscopía de Potencial de Superficie, SKM, KPFM); Microscopía de Capacitancia y Fuerza Eléctrica (EFM); medición de curvas de fuerza; Microscopía de Fuerza de Respuesta Piezoeléctrica (PFM); Nanolitografía; Nanomanipulación; STM (opcional); Mapeo de Fotocorriente (opcional); Mediciones de características de voltio-amperio (opcionales)
 

Modos de espectroscopía

Raman confocal, imagen y espectroscopía de fluorescencia y fotoluminiscencia

Espectroscopía Raman Mejorada con Punta (TERS) y Fotoluminiscencia Mejorada con Punta (TEPL) en modos AFM, STM y fuerza de corte

Microscopía y Espectroscopía de Barrido Óptico de Campo Cercano (NSOM/SNOM)
 

Opciones

• Unidad conductora: rango de corriente 100fA ÷ 10uA / 3 rangos de corriente (1nA, 100nA y 10 μA) conmutables desde el software
• Celda líquida / Celda electroquímica
• Control de temperatura para celdas líquidas: Calentamiento hasta 60°C

• Cámara Ambiental

• Sistema de control de humedad: Rango de humedad relativa 10-85% / Estabilidad relativa de humedad ±1%

• Módulo de refrigeración de calefacción: de -50°C a +100°C
• Módulo de calefacción: calentamiento hasta 300°C / Estabilidad de temperatura 0,1°C, o calentamiento hasta 150°C / Estabilidad de temperatura 0,01°C
• Soporte combinado de fuerza de corte y fuerza normal para diapasón
• Titular STM
• Módulo de Acceso a Señales
  
   

Acceso óptico

Capacidad para usar simultáneamente el apocromatismo del plan superior y lateral objetivo: Hasta 100x, NA = 0,7 desde arriba o lateral; Hasta 20x y 100x simultáneamente

Escáner piezoobjetivo de lazo cerrado para alineación láser espectroscópica ultra estable a largo plazo: rango 20 μm x 20 μm x 15 μm; Resolución: 1 nm
 

Espectrómetro

Rango de longitudes de onda: UV-VIS-NIR; Sistema acromático de banda ancha y alto rendimiento basado en espejos, optimizado de 300 nm a 1600 nm sin cambiar óptica.

Láseres integrados: Hasta 4 láseres de estado sólido, longitudes de onda de NUV a NIR disponibles.

Láseres externos: Ilimitados, normalmente para gas grande y láseres ultrarrápidos.

Velocidad de escaneo del espectrómetro: Hasta 400 nm/s, con rejilla de 600g/mm, montada en una torreta estándar de 4 rejillas.

Número de rejillas: ilimitado; Torreta motorizada intercambiable con 4 rejillas.

Imagen rápida: <1ms/espectro SWIFT, SWIFT XS EMCCD, SWIFT repetitivo, SWIFT eXtended Range y SmartSampling para imágenes ultrarrápidas.

Corte estándar del número de onda: 30 ^cm-1, con filtros de borde para longitudes de onda de 532, 638 y 785 nm, rechazo de inyección >99% de transmisión.

Software

Paquete de software integrado que incluye SPM, espectrómetro y control de adquisición de datos, suite de análisis y procesamiento de datos espectroscópico y SPM, incluyendo ajuste espectral, deconvolución y filtrado; módulos opcionales incluyen una suite de análisis univariante y multivariante (PCA, MCR, HCA, DCA), detección de partículas y funcionalidades de búsqueda espectral.