使用 10 nm 银纳米颗粒探究 ViewSizer 3000 的粒径测量下限

随着工艺和产品日益精细化，以及对更高分辨率粒径分布数据的需求不断增加，测量低至 10 nm 纳米颗粒的能力在众多领域中正变得愈发重要。

本应用说明中，使用 ViewSizer 3000 对经透射电子显微镜图像确认粒径的 10 nm 银纳米颗粒进行了测量。