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半导体

从杂质和污染物分析到缺陷分析和过程控制,HORIBA提供了广泛的分析仪器,适用于各种半导体材料,包括硅、锗、砷化镓、碳化硅、氮化镓等。我们强大可靠的拉曼光谱仪,x射线荧光显微镜,光谱椭圆仪,元素分析仪和粒度分析仪将帮助您把您的半导体工艺提高到一个新的水平。了解HORIBA技术和应用专家如何帮助您保持最高水平的生产力。

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