多种显微技术共定位表征纳米材料

纳米结构材料的多模式光谱技术

Ga2O₃/SnO2 纳米线(左:SEM图像,右:PCL图像)

智能纳米结构材料涉及对其形态和化学成分的广泛了解,以开发新的设计。光学和传输特性在很大程度上取决于此类纳米材料的形态。此外,人们还可以通过混合多种化学元素或化合物来广泛提高此类纳米结构的性能。拉曼、光致发光和扫描电镜阴极荧光联用系统(SEM-CL)等光谱学技术在全面鉴定此类复杂的新型纳米材料方面发挥着关键作用。然而,这类研究的一个关键点是能够通过所有可用技术在同一位置测量特定区域或人工痕迹。通过共聚焦技术,可以对样品进行全面表征,并对图像进行精确叠加。HORIBA  开发了一种新的重新定位解决方案,称为跨平台精准定位芯片(nanoGPS navYX™)。

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