基于EEM荧光光谱技术的中国历史纺织品染料无损分析

历史纺织品的保护与研究面临着独特的分析挑战。传统的破坏性取样方法虽然能提供详尽的化学信息，但在处理不可替代的文化遗物时，往往因不切实际或伦理问题而难以实施。本应用说明介绍了一种突破性的无损分析方法，利用激发-发射矩阵荧光光谱技术，对中国清代（1616—1912 年）皇家纺织品中的天然染料进行鉴别。