SZ-100V2 纳米颗粒分析仪可用于测量蛋白质、淀粉、聚合物和树枝状大分子的分子量。该数据可通过动态光散射和静态光散射两种不同方法获取，具体方法如下文所述。
大分子扩散系数与其分子量之间存在著名的经验相关性，即 Mark-Houwink-Sakurada 方程。
其中:
参数 k 和 α 需通过聚合物/溶剂组合实验测定。这意味着必须明确指定聚合物种类、溶剂类型及测试温度。相关参数值可在文献资料中查阅。
该技术的缺点在于它依赖于经验常数和平均分子量的性质。其优点在于无需精确了解聚合物浓度，且速度非常快。
SZ-100V2 也可用于静态光散射模式，以测量蛋白质、小颗粒和聚合物的分子量。这些结果是通过测量多个样品浓度下单一角度（90°）的散射光创建的德拜图生成的。德拜图的截距用于确定分子量，斜率用于计算第二维里系数。
静态光散射实验中的分子量测定使用如下所示的瑞利方程：
其中：
德拜常数由 K=4π 2 n 2 (dn/dc) 2 /(λ 4 N A )给出，其中 n 为液体折射率，(dn/dc)为折射率增量，λ为真空中的光波长，N A 为阿伏伽德罗常数。在大多数情况下，这些值均与分子量无关。
上述瑞利方程中的极限条件值得特别注意。该方程仅在零角度极限下成立。对于较大高分子，通常需要使用多角度散射仪器并将结果外推至零角度。对于较小分子（Rg < 20 nm），则无需此步骤，可采用单角度数据。但这会引入随角度增加的系统误差。即，使用背角测量的系统误差约为直角散射（90º）结果的两倍。因此，SZ-100V2 选择在 90º角采集静态光散射数据。
该技术的缺点在于需要精心的样品制备且测量耗时较长。其优势则在于结果明确且不依赖于经验相关性。
下图展示了若干样品的德拜图示例。
利用德拜图测量分子量
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纳米粒度及Zeta电位分析仪
