UVISEL Plus

UVISEL PLUS-HORIBA

Ellipsómetro espectroscópico de FUV a NIR: 190 a 2100 nm

 

El ellipsómetro de referencia para mediciones de películas finas

El elipsómetro UVISEL Plus ofrece la mejor combinación de modularidad y rendimiento para caracterizar películas delgadas avanzadas, superficies e interfaces.

El nuevo UVISEL Plus incluye la tecnología de adquisición más reciente diseñada para medir más rápido y con mayor precisión que nunca. FastAcq, la tecnología de adquisición más reciente, se basa en doble modulación, diseñada para la caracterización real de películas delgadas. Basada en un nuevo monocromador electrónico, de procesamiento de datos y alta velocidad, la nueva tecnología FastAcq permite completar una medición de muestra de 190 a 2100 nm en 3 minutos, con alta resolución.

Basado en tecnología de modulación de fase, el elipsómetro de UVISEL Plus proporciona un diseño óptico potente para cubrir continuamente el rango espectral desde 190 hasta 2100 nm. Se entregan datos de alta calidad a lo largo de todo el espectro en términos de alta precisión, mediciones de alta resolución y excelente relación señal-ruido.

La tecnología de modulación de fase caracteriza los cambios de polarización a altas frecuencias (50 kHz) y sin ningún movimiento mecánico. Resulta en:

  • Mediciones de alta precisión para todos los valores de (Ψ,Δ)
  • Excelente relación señal/ruido del FUV al NIR
  • Velocidad de adquisición de datos muy rápida, de hasta 50 ms/punto, ideal para estudios cinéticos y mediciones in situ en tiempo real

 

El elipsómetro modulado en UVISEL Plus de fase alcanza mayor sensibilidad y precisión para caracterizar películas delgadas en comparación con los elipsómetros convencionales que utilizan elementos rotatorios. Permite la detección de películas muy finas o interfaces que ningún otro elipsómetro puede detectar, así como la caracterización de capas gruesas de hasta 50μm. La medición y caracterización de muestras transparentes con reflejos en la parte trasera es sencilla y precisa y no requiere el arañazo en la parte trasera.

Diseñado para mayor flexibilidad en mediciones de película fina, el UVISEL Plus ofrece microspots para muestras con patrones, ángulo variable, etapa de mapeo automático y una variedad de accesorios, lo que lo hace escalable para satisfacer todas tus necesidades de aplicación y presupuesto.
El diseño modular del UVISEL Plus permite su uso tanto como herramienta de metrología de mesa como para integración in situ en cámaras de proceso. o máquinas roll to roll.

El UVISEL Plus se controla mediante la plataforma de software DeltaPsi2 o la interfaz Auto-Soft, que son comunes a todos los elipsómetros de HORIBA. DeltaPsi2 ofrece un paquete completo de medición y modelado que permite abordar tanto aplicaciones rutinarias como avanzadas de película fina, mientras que la interfaz Auto-Soft cuenta con un flujo de trabajo intuitivo para acelerar la recogida y el análisis de datos.

El UVISEL Plus y su tecnología FastAcq son el elipsómetro espectroscópico más versátil para mediciones de grosor de película fina y constantes ópticas en los campos de la investigación y procesamiento de materiales, pantallas planas, microelectrónica y fotovoltaica.

El UVISEL Plus se considera un elipsómetro de referencia para la ciencia de materiales definitiva.

Segment: Científico
Empresa de Fabricación:HORIBA France SAS

Beneficios del producto

  • Máxima precisión y sensibilidad
  • Diseño modular
  • Amplio rango espectral: 190-2100 nm
  • Paquete de software totalmente integrado para medición, modelado y operaciones automáticas

 

Información obtenida

  • Grosor de película fina de 1Å a 50 μm
  • Rugosidad superficial e interfaz
  • Constantes ópticas (n,k) para películas isotrópicas, anisotrópicas y graduadas
  • Datos ópticos derivados como: coeficiente de absorción α, banda prohibida óptica Eg
  • Propiedades del material: composición de aleaciones compuestas, porosidad, cristalinidad, morfología y más
  • Matriz de Mueller
  • Despolarización

 

 

 

Especificaciones UVISEL

  • Rango espectral: de 190 a 885 nm │NIR opción de extensión hasta 2100 nm
  • Detección: monocromador de alta resolución acoplado a detectores sensibles

 

Configuración manual

  • Tamaño del punto: 0,05 – 0,1 – 1 mm (orificio estenopeico)
  • Etapa de muestra: 150 mm, ajuste manual de altura (20 mm) y de inclinación
  • Goniómetro: Ángulo ajustable manualmente de 55° a 90° por un paso de 5°

 

Configuración automática

  • Etapa de muestreo de automatización: 200x200mm, 300x300mm etapa XY, ajuste manual de altura (4mm) e inclinación, etapa XYZ, etapa theta
  • Goniómetro automático: Ángulo ajustable automáticamente de 45° a 90° por paso de 0,01°

 

Goniómetro integrado

  • Ángulo de incidencia manual: 35° a 90° por 5° pasos
  • Soporte de muestra: ajuste manual de altura z de 150mm, 20mm
  • Sistema de autocolimación para alineación de muestras en opción
  • Dimensiones: ancho: 25cm; altura: 35cm; profundidad: 21 cm

 

Configuración in situ

  • Adaptación mecánica: bridas CF35 o KF40
  • Fácil swith entre configuraciones in situ y ex-situ
  • Más información

 

Opciones

  • Accesorios: celda controlada por temperatura, celda líquida, celda electroquímica, módulo de reflectometría para medir la reflectancia a 0° de incidencia, y más
  • Visión: Cámara CCD
  • Más información

 

Actuación

  • Precisión: Ψ= 45°±0,01° y Δ=0°±0,01° medidas en configuración de aire directo1,5 – 5,3 eV
  • Repetibilidad: NIST 1000Å SiO2/Si (190-2100 nm): d ± 0,1 % – n(632,8nm) ± 0,0001
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