自動ウェハ検査装置

HORIBAは自社の分析・計測技術と全自動測定技術を融合させ、自動搬送と、マッピングイメージ化が可能な計測システムを開発しました。
このシステムにより、様々なウェハに関する膜厚・結晶化率・欠陥・異物検出といった重要なパラメーターをタイムリーに提供します。

Xtrology
Xtrology

全自動薄膜検査装置

PLATO Series
PLATO Series

フォトルミネッセンスマッピングシステム

PLATO-MicroScan
PLATO-MicroScan

マイクロフォトルミネッセンスマッピングシステム

MiPLATO-SiC
MiPLATO-SiC

SiCウェハ欠陥検査システム

PLIMA-LED
PLIMA-LED

マイクロフォトルミネッセンスイメージングシステム

OPM Series
OPM Series

光学特性計測システム

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