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〈カタログ〉HORIBA Metrology ソリューション
SiCウェハ欠陥検査システム
SiCウェハ欠陥検査システム MiPLATO-SiCは、SiCウェハ向けに最適化されたフォトルミネッセンス (PL) マッピングシステムです。 スパイラルマッピングで全ウェハのスペクトルを短時間に取得し、欠陥密度・キャリアライフタイム・ウェハ全体マッピングを一括測定可能です。 Deep-learning機能は、自動欠陥分類を実施し、高度な欠陥種別/判定に有効です。 スペクトラムマッピング時のAuto Navigation機能では、PLマップ座標・DIC画像・ステージ座標等から欠陥位置の把握および自動追跡が可能です。 ウェハの微細な欠陥検出・解析にも対応できる装置です。