云课堂
观看视频，了解更多关于椭圆偏振光谱仪的知识，并掌握更多应用。
椭圆偏振光谱是一种表面敏感、非破坏性、非侵入性的光学技术，广泛应用于薄层和表面特征。它基于线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合获得厚度以及光学常数等。根据薄膜材料的不同，可测量的厚度从几个Å到几十微米。椭圆偏振光谱是一种很好的多层膜测量技术。
椭圆偏振光谱仪可以表征薄膜的一系列特性，如膜厚、光学特性(n,k)、光学带隙、界面和粗糙度厚度，薄膜组成，膜层均一性，等等。
椭圆偏振光谱适合分析的材料包括半导体、电介质、聚合物、有机物和金属。也可用于研究固-液或液-液界面。
HORIBA椭圆偏振光谱仪采用新型高频偏振调制技术，测试过程中无任何机械旋转。与传统椭偏仪相比，更快的测试速度、更宽的测量范围以及更高的表征精度。
Ellipsometry is a well-known, yet sometimes not well understood, characterization techniques for thin films. Based on light polarization and indirect determination of parameters, ellipsometry enables obtaining thin film thickness and optical parameters, roughness, porosity or even compositional information about simple layers & complex stacks. Very useful in the fields of semiconductors, PV, optical coatings and every application using thin films, ellipsometry reached for some years now an instrumental maturity which enables to open its use to non-expert users. Come and (re)discover the basics of this powerful technique for your materials characterization needs!
Read more凭借20% 光电转换效率，混合钙钛矿太阳能电池被认为是下一代光伏的候选者。 由于 HORIBA Scientific 产品组合广泛，因此可以使用不同的技术来深入了解这类材料的光电特性和机制。 在本应用说明中，我们决定使用椭偏、稳态和时间分辨荧光以及辉光放电发射光谱来研究沉积在旋涂 PEDOT:PSS 上的 CH3NH3PbI3 薄膜，并且解决了材料暴露在空气中的影响
查看详情如您有任何疑问，请在此留下详细需求信息，我们将竭诚为您服务。
