在同一系统上进行拉曼和光致发光测量

Raman PL System

HORIBA Scientific 在 LabRAM HR 和 LabRAM ARAMIS. 上可提供独特的拉曼/PL系统配置。综合可见和红外光谱学,可获得比单范围分析更多的信息. 这对于半导体材料碳纳米管材料的表征非常重要,可提供直接关系到样品的电子和光学性质。在光致荧光的发射光谱测量中通常需要扩展到近红外,(大于1.1微米),在这一区域用CCD作探测器的常规拉曼系统通常不行。为了得到拉曼和光致荧光分析,Jobin Yvon的拉曼系统能配备两个不同的探测器出口,一个标准的CCD探测器和一个InGaAs阵列探测器,后者非常适合近红外的PL探测。

 

用户在进行拉曼和PL切换时不需要进行任何调节。系统集成了两种技术,使得两种测量可以在样品上同点进行,以便精确的表征和分析

右图是硅晶片的拉曼和PL测试结果,该圆环来自于热作用的结果.

用532纳米激发的PL谱,近红外区域用InGaAs阵列探测器.

专门的PL软件

对于半导体分析,我们提供专门的PL软件模块。可进行细致的PL分析和特征,非常符合于半导体工业的需要.