XGT-5200 X射线分析显微镜

概要

       台式XGT - 5200系统搭载独特的X射线导管,允许高空间分辨率的X射线荧光分析--从1.2毫米到10微米。无需任何样品制备或真空--样品仅需要放置在样品室中,即可在正常大气压力下分析。完全整合的软件可控制样品的移动,获取数据分析(包括定性和定量分析,并生成成分组成图像)。将样品放在样品祥中后,只需几秒钟,借助直观的“point and click”选择分析位置,即开始抓取数据。

       样品观察采用同轴几何呈象,可消除视差,您可以绝对相信,看到的样品即是测量的位置。

       仪器装载了两个X射线管,从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束,可适用于一系列实验。这些光管传递的高强度光斑确保了最低的数据获取时间。而光管的单毛细管设计非常适合高强度的元素成像,甚至对于不平整样品同样有效。

       通过自动采样扫描很容易获得XRF面扫描图像,样品下方的第二次信号检测能同时收集X射线透射图像。这项技术可提供额外的结构信息,极有利于对兴趣区域的定位,或了解样本的内部结构。

特征

  • 最高的空间分辨率

         HORIBA独特的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析,X射线光斑直径小到10微米。这种最高强度的超细光斑,可进行快速无损的微细结构分析。 

                         

  • X射线透射成像

         结合XRF成像, XGT–5200可抓取透视图像。这可被用来进行内部结构分析,定性那些眼睛不可见的区域。用垂直束窄扫描完成后,得到清晰穿透图像甚至非平面样品,如圆筒形部件。

                         

  • 完整地分析整个样品

         该样品室可以容纳广泛的样品进行分析,从10 μm的微区功能的点分析,到10cmX10cm大面积分析。

                         

  • 整合数据采集和分析的操作软件

         直观的软件可以轻松地控制仪器硬件,快速采样的可视化和选择测量区域,全面的数据分析。功能包括自动峰识别,定量测量, RGB图像生成,线剖面分析。

                        


制造: HORIBA

規格

型号

XGT-5200

原理

能量色散型X射线荧光光谱分析法

检测元素

NaU(试样在大气中)

样品形态

塑料、金属、纸、涂料和油漆等的液体(液体试样容器为可选项),生物样品

样品室环境

大气

X射线光斑

10µm50µm100µm400µm1.2mm,3mm

X射线管

50kV/1mA, 铑(Rh)靶材

检测器

SDD硅漂移检测器

样品台

100mm×100mm(面扫描最大尺寸),

200mm×200mm(可选)

样品室

400×350×40mm(可定制特殊尺寸)

光学成像

整体图像: 100mm×100mm (标准:400,000象素, 可选: 2百万象素)
细节图像:同轴100倍放大

分析方法

定性: 自动定性功能,背景显示, ROI 颜色分辨, 匹配功能
定量: FPM, 校准曲线, 有害元素 (Cl补偿,厚度补偿,电线补偿)
测量导航: 条件设置, 定量分析l

数据管理(可选)

Excel® 数据管理软件,检测报告输出

电源

AC100, 120, 220, 240V  50/60Hz

重量

280kg

外形尺寸

680(W)833(D)670(H)mm

产品相关图及其它

外形尺寸图 (单位:㎜)

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