XGT-9000SL

Microscopio analítico de rayos X
con una cámara súper grande

Experiencia definitiva en análisis microscópico en muestras grandes sin comprometer la seguridad.

  • Gran capacidad de la cámara: 1030 mm x 950 mm x 500 mm [Ancho x Re x Alto]
  • Cartografía de áreas amplias: hasta 350 mm x 350 mm
  • Protección total contra la exposición a rayos X (cumplimiento IEC61010-1 / JAIMAS0101-2001)
  • <15 μm de tamaño de punto con una sonda de ultra alta intensidad sin comprometer la sensibilidad ni la resolución espacial
  • Tipos duales de detectores para rayos X fluorescentes y rayos X de transmisión
Segment: Científico
Empresa de Fabricación:HORIBA, Ltd.

Diseñado para revolucionar el análisis de grandes muestras y ampliar tus aplicaciones

La serie XGT-9000SL tiene una capacidad de cámara muy grande de hasta 1030 mm x 950 mm x 500 mm [Ancho x Re x Alto] e incluye una etapa ancha de 500 mm x 500 mm. Estas funciones permiten a los usuarios analizar incluso muestras de gran tamaño, como pinturas, grandes placas de circuito impreso y discos de freno. Es perfecto para manipular muestras tan grandes con facilidad y realizar análisis elementales sobre ellos sin destrucción. También es versátil para alojar múltiples muestras pequeñas en el escenario para realizar análisis secuenciales.

 


Tipos duales de detectores para rayos X fluorescentes y rayos X de transmisión

La serie XGT-9000SL ofrece dos tipos de detectores. Uno es un detector de rayos X fluorescente que indica la distribución elemental de una muestra, y el otro es un detector de rayos X de transmisión que indica la estructura interna de una muestra. XGT-9000SL puede obtener simultáneamente los dos tipos de imágenes de la misma zona. Especialmente es útil para comprender mejor la electrónica, las gemas incluidas inclusiones y los ejemplares biológicos.

Imagen simultánea de imagen elemental e imagen de rayos X de transmisión de una placa de circuito impreso
(Izquierda) La imagen en capas elementales reveló una materia extraña atrapada bajo el chip de circuito integrado. (Derecha) La imagen de rayos X de transmisión reveló muchos vacíos bajo el chip de CI.

 


Proteger a los usuarios de la exposición a rayos X con la cámara de protección de rayos X

El XGT-9000SL está diseñado con el más alto nivel de blindaje contra rayos X contra radiaciones (conforme a IEC-61010-1 / JAIMAS0101-2001). Con su 1) escudo transparente, los usuarios pueden observar y monitorizar fácilmente la muestra en la cámara durante una medición sin comprometer la seguridad del usuario. El sistema también incluye 2) un indicador de irradiación de rayos X situado en el panel frontal que alerta a los usuarios cuando los rayos X están activos. Además, el XGT-9000SL está equipado con 3) bloqueos en las puertas de la cámara, evitando cualquier irradiación de rayos X en el improbable caso de que un usuario abra accidentalmente la puerta mientras el sistema está en funcionamiento.

 


Múltiples funciones de seguridad protegen tus preciadas muestras de riesgos de colisión

Se incorporan múltiples funciones de seguridad para garantizar la protección de tus preciadas muestras:

  1. Cálculo de la posición de la etapa: El software puede calcular la posición inicial segura basándose en un valor de entrada de la altura de la muestra. Esto significa que la etapa se moverá hacia arriba y se detendrá en la posición óptima, minimizando el riesgo de colisiones accidentales con la óptica u otros componentes sensibles.
  2. Sensor láser: El sistema puede detectar interferencias de tus muestras con un sensor láser y detener la etapa antes de que la muestra toque la óptica, incluso si se ha introducido una altura de muestra inexacta.
  3. Bloqueo de etapas: La serie XGT-9000SL viene equipada con un controlador de escenario sofisticado que incorpora una función de bloqueo de etapa de seguridad. Incluso si un usuario opera accidentalmente el escenario de forma incorrecta, el escenario no pasará de la posición segura designada.

 


Software flexible y fácil de usar

El software de la serie XGT-9000SL tiene una interfaz altamente flexible y fácil de usar. Muestra árboles de datos, imágenes ópticas, resultados del espectro, la tabla periódica y los resultados de imágenes cartográficas en un vistazo. Los usuarios también tienen la flexibilidad de personalizar el diseño en pantalla o incluso mostrar los resultados en varios monitores. Así, permite a los usuarios ver los resultados con mayor claridad y mejora el análisis de datos.

Además de las funciones estándar del software, los módulos avanzados pueden añadirse a la suite de software para ofrecer experiencias de usuario más completas.

  • Módulo FPM multicapa: para medición de grosor con/sin muestras estándar
  • Módulo RoHS: para el cribado RoHS
  • Módulo de cola: para mediciones múltiples automatizadas en modo no atendido
  • Módulo de búsqueda de partículas: para análisis de partículas y análisis colocalizado
  • Módulo de enlace LabSpec: para transferencia de datos a LabSpec 6 para análisis multivariante

 



Aplicación Ejemplos

Información básica

Instrumento

Microscopio analítico de rayos X con una cámara súper grande
PrincipioEspectroscopía de fluorescencia de rayos X dispersiva de energía
Elementos detectablesF (9)* - Am (95)
Tamaño disponible de la cámara1030 mm (An) x 950 mm (D) x 500 mm (Alto)
Capacidad máxima de carga en etapas10 kg
Área máxima de cartografía350 mm x 350 mm sobre 500 mm x 500 mm


Observación de ejemplo

Observación óptica de imágenesDos cámaras de alta resolución
Imagen completa
Imagen detallada
5 millones de píxeles, campo de visión: 350 mm x 350 mm
5 millones de píxeles, campo de visión: 2,5 mm x 2,5 mm
Diseño ópticoObservación vertical coaxial de rayos X y óptica
Iluminación / Observación de muestrasIluminaciones superior, inferior y lateral / Campos brillantes y oscuros


Generador de rayos X

AlimentaciónHasta 50 W
VoltajeHasta 50 kV
ActualidadHasta 1 mA
Material objetivoRh


Tubo guía de rayos X (Sonda)

Selección del tamaño del punto de la sondaSe pueden ofrecer varias combinaciones de sondas
(por ejemplo, se pueden elegir una sonda de ultra alta intensidad de 15 μm y una sonda de ultra alta intensidad de 100 μm)


Detectores

Detector de fluorescencia de rayos XDetector de deriva de silicio libre de nitrógeno líquido (SDD)
Detector de transmisiónNaI (TL)


Modo de funcionamiento

Entorno de mediciónVacío parcial
Todo el ambiente
Él purga (opcional)*


Dimensión de instrumentos (unidad principal)

Tamaño del instrumento1090 mm (Ancho) x 1380 mm (D) x 1820 mm (Alto)
Peso en masaAproximadamente 550 kg
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