ICP-OES

Amostra AS 500 eA Imagem FR

Complete seu espectrômetro ICP-OES de acordo com suas necessidades específicas.

Acessórios para espectrômetro ICP-OES - Complete seu espectrômetro ICP-OES de acordo com suas necessidades específicas.

Segmento: Científico
Divisão:ICP-OES
Fabricante: HORIBA France SAS

Amostrador automático AS 500

Amostrador automático programável com acesso aleatório e capacidade para até 360 amostras em posição. Opção de diversos racks e possibilidade de trabalhar com racks e bandejas definidos pelo usuário.

Análise de UV distante

Extensão até 120 nm para análise no ultravioleta distante de elementos halogênios ou uso de comprimentos de onda alternativos.

Win-IMAGE

Oferece aquisição rápida e completa do espectro em qualquer espectrômetro ICP-OES sequencial HORIBA Scientific. Análise semiquantitativa automática para todos os elementos sem necessidade de calibração, análise retrospectiva e identificação automática de elementos desconhecidos.

Geradores de nitrogênio

Geração de nitrogênio a partir do ar para a purga de espectrômetros ICP-OES. A purga melhora a sensibilidade para comprimentos de onda abaixo de 190 nm e prolonga a vida útil dos componentes ópticos.

Resfriador de água

Método seguro, ecológico e controlado para resfriar a bobina da tocha e o gerador de radiofrequência.

Nebulizador ultrassônico

Melhore a sensibilidade dos seus instrumentos em até uma ordem de magnitude com a USN.

Umidificador de argônio

Minimize o entupimento do nebulizador e a deposição da amostra no capilar do injetor saturando o fluxo de argônio do nebulizador com água.

Gerador de hidretos CMA

O sistema de geração de hidretos do Analisador de Metais Concomitantes (CMA) permite a análise simultânea de elementos com e sem hidretos, sem a necessidade de pré-tratamento da amostra. Observa-se uma melhoria de 10 a 20 vezes nos limites de detecção para os elementos com hidretos e de 50 vezes para o mercúrio (Hg).

Atualizações ópticas

Adicione uma óptica simultânea a um sistema sequencial HORIBA Scientific para criar um sistema combinado ICP OES com maior capacidade de processamento de amostras.

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