利用X射线荧光微区分析法对单粒稻米进行元素分析

利用微型X射线荧光光谱仪(micro-XRF)分析单粒稻米,以研究稻米抛光的影响。稻米表面矿物元素的浓度与抛光程度相关。

70% 抛光米的元素图像。

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XGT-7200
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X射线荧光分析仪

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