本应用文档介绍了利用 AFM-拉曼光谱技术对二维材料垂直范德华异质结构（包括 hBN/石墨烯/WSe₂ 和 hBN/双层石墨烯/hBN/石墨栅/hBN/SiO₂/Si）进行的共定位表征。通过集成式 AFM-拉曼显微系统，实现了利用在相同区域同步获取形貌、接触电势差（CPD）及拉曼光谱数据。