XploRA Nano

AFM-Raman XploRA Nano

纳米拉曼光谱仪

这是一套基于业界领先的扫描探针显微镜SmartSPM和 XploRA plus的耦合系统。

XploRA Nano系统,紧凑、全自动、易于使用,这是一套已经得到证实了的经济适用的高度集中原子力显微镜-拉曼的全功能系统,它帮助大家实现TERS成像。

多样品分析平台

宏观、微观和纳米尺度的测量可以在同一个平台上进行

简单易用

全自动操作,在几分钟内即可开始测量,而不是几小时!

真正的共聚焦

高空间分辨率,自动样品台,全显微镜可视化。

高收集效率

顶部和侧向拉曼光谱检测都可以获得高分辨和高通量测量同区域和针尖增强光谱测量(TERS和TEPL)

高光谱分辨率

高光谱分辨能力,多光栅自动切换,宽光谱范围的拉曼和光致发光分析。

高空间分辨率

针尖增强的纳米级光谱分辨率(优于10nm)

丰富的光学光谱(拉曼和光致发光)

多技术/多环境

结合TERS/TEPL化学成像的多模式SPM技术包括AFM、导电和电学模式(cAFM、KPFM)、STM、液池和电化学环境。一个工作站和强大的软件即可对两台仪器进行完全控制,SPM和光谱仪可以同时或独立操作。

坚固性/稳定性

高共振频率AFM扫描器,远离噪音干扰!高性能表现,无需主动隔振系统。

SmartSPM扫描器和基座

闭环平板扫描器: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

扫描器非线性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪声水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz带宽,电容传感器打开);XY≤0.02 nm RMS(100 Hz带宽,电容传感器关闭);Z<0.04 nm RMS (1000 Hz带宽,电容传感器开)

高频扫描器:XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz

X, Y, Z自动趋近:XYZ数字闭环控制,Z向马达趋近距离18mm

样品尺寸:40 mm x 50 mm x 15 mm

样品定位:自动样品台范围:5 mm x 5 mm

定位精度:1µm

AFM测试头

激光波长:1300nm(光谱检测器无干扰)

激光准直:全自动悬臂—光电二极管激光准直

探针通道:为外部操作和探针提供自由通道

SPM测量模式

标准模式:接触模式、半接触模式、非接触模式、相位成像模式、侧向力模式(LFM)、力调制模式、磁力显微镜模式(MFM)、开尔文探针模式(表面电势,SKM,KPFM)、扫描电容模式、静电力显微镜模式(EFM)、力曲线测量、压电响应模式(PFM)、纳米蚀刻、纳米操纵

升级模式:溶液环境接触模式、溶液环境半接触模式、导电力显微镜模式、STM模式、光电流成像模式、伏安特性曲线测量等

光谱模式

共聚焦拉曼、荧光和光致发光光谱和成像

针尖增强拉曼光谱(AFM,STM等)

针尖增强荧光

近场光学显微镜和光谱(NSOM/SNOM)

导电力AFM(选购)

电流范围:100fA~10µA;三档量程自动切换(1 nA, 100 nA 和 10 µA)

光路耦合通道

顶部和侧向能够同时使用消色差物镜:从顶部或侧向最高可用100X,NA0.7物镜;可同时使用20倍和100倍

长期光谱激光稳定对准的闭环压电物镜扫描器:20µm x 20µm x 15µm;

分辨率:1nm

光谱仪

全自动紧凑型XploRA Plus显微光谱仪,可独立使用显微拉曼光谱仪

波长范围:75cm-1至4000 cm-1

光栅:四光栅自动切换(600, 1200, 1800 and 2400 g/mm)

自动化:全自动,软件控制操作

检测器

全光谱范围CCD和EMCCD检测器。

光源

典型波长:532nm、638nm、785nm;其它波长可根据需求提供

自动化:全自动,软件控制操作

软件

集成软件包,包括全功能SPM、光谱仪和数据采集控制、光谱和SPM数据分析和处理套件,包括光谱拟合、去卷积和滤波,可选模块包括单变量和多变量分析套件(PCA、MCR、HCA、DCA),颗粒检测和光谱搜索功能。

TERS用于表征磷脂双分子层和纳米粒子检测
TERS用于表征磷脂双分子层和纳米粒子检测
磷脂双分子层是细胞膜的主要成分,同时也作为纳米粒子现在主要进入细胞的选择性渗透屏障。研究纳米粒子和细胞膜之间的相互作用需要具有纳米尺度分辨率能力的分子化学探针。
爆炸物纳米颗粒表征
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导电AFM、TERS和显微拉曼表征在分子开关有机忆阻器中的应用
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氧化石墨烯片的TERS和KPFM相关性研究
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AFM-Raman及其TERS模式,以10nm的空间分辨率显示了氧化石墨烯(GO)片表面结构缺陷和化学基团的纳米图谱分析。TERS图谱与KPFM测量相结合,用于GO表面的实时形貌学、电学和化学成像。这种多参数测量方法扩展了TERS的应用能力,展示了纳米尺度上局部的化学成分和物理性质的直接相关性,这不仅仅适用于2D材料,它几乎可以适用于任何样品表面。
液体环境中的侧向照明和侧向收集的AFM-TERS测量
液体环境中的侧向照明和侧向收集的AFM-TERS测量
拉曼光谱耦联原子力显微镜(AFM)已被证明是探测纳米尺度化学性质的有力技术。液体中的TERS在生物样品的原位研究、催化和电化学反应等方面都有很好的应用前景。
TERS表征内燃机排放物中的纳米颗粒
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道路机动车辆排放的低于23nm的颗粒物引起了人们对人类健康的新关注。除了测量粒子的数量和质量外,还必须确定纳米粒子的表面化学成分,以了解其与环境的潜在反应性。
二维材料TERS、TEPL和SPM相关测量
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在以实际纳米器件的形式实现二维材料的前景之前,还有许多挑战。一种可采集信息丰富的纳米级表征技术来鉴定这些二维材料,并协助推广这些基于二维材料的应用。
碳纳米管的针尖增强拉曼光谱表征
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利用TERS揭示碳纳米管结构中的缺陷密度,对于更好地理解用这种纳米物体制成的器件的电学性质具有重要意义。通过TERS不仅可以研究缺陷浓度,而且可以研究不同径向呼吸模式下的局部手性变化,还可以研究单个碳纳米管水平上的压力效应和应变分布。
TERS在石墨烯中的表征
TERS在石墨烯中的表征
拉曼光谱通常是碳相的表征,尤其是石墨烯和氧化石墨烯的表征,因为它是非破坏性的,能提供了大量的信息,如缺陷、无序、边缘和晶界、厚度、掺杂、应力和热导率。但是,衍射限制拉曼显微镜无法实现石墨烯纳米物体研究所需的超高空间分辨率。
用TEOS表征MoS2
用TEOS表征MoS2
TEPL和TERS图像与AFM同时获得的形貌学图像具有很好的相关性,并且在揭示MoS2薄片的性质(层数)方面都是一致的。在去卷积之后,TEPL信号甚至能够揭示100 nm大小的MoS2薄片内的局部不均匀性。开尔文探针测量支持TEPL和TERS测量,并增加了这种针尖增强耦合工具的能力。通过更好地理解二维材料在纳米尺度上的电学和化学性质,二维材料的针尖增强光谱(TEOS)表征可能有助于将这些材料进一步商品化。

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