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椭圆偏振光谱仪表征封装有机发光二极管器件

OLED sample description and experimental measurement procedure.

Three OLED samples have been characterized using the Horiba Jobin Yvon Spectroscopic Phase Modulated Ellipsometer.

相较于LCD技术,OLED的优势在于宽视角、响应时间、功耗低、颜色饱和度更高,也可以更快地制造。然而OLED器件暴露在空气和水中会退化,需要在环境中密封。传统保护OLED的方法是在一个充满惰性气氛和干燥剂的金属或玻璃盖。

椭偏仪是测量多层膜厚度和光学常数(n,k)的一种标准光学表征技术,已成功的表征封装OLED器件。

本文还研究了OLED的老化过程,对三个有机发光二极管进行了表征。研究了α-NPD薄膜1个月的老化过程,发现薄膜的折射率显著降低,说明材料的密度在降低。

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