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BST thin film has been deposited using Pulsed Laser Deposition (PLD) onto polished sapphire substrates. The measurement takes into account the backside reflection of transparent sapphire substrate. The model that includes an overlayer and an anisotropic substrate has been used to fit perfectly this sample.
铁电薄膜的潜在应用有高介电常数电容器、红外探测器、压电传感器、光调整期、光波导、非易失性存储器芯片和动态随机存储器的电容等。人们对其铁电和介电性进行了广泛的研究，但对其光学性质的研究相对较少。
然而，折射率和消光系数等光学常数对于波导和其它光学应用具有重要意义。利用相位调制椭偏仪测定PZT和BST材料的光学常数非常重要。
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