椭圆偏振光谱仪表征有机半导体的光学特性

椭圆偏振光谱是一种无损光学薄膜测量工具，用于测定膜层厚度和光学常数（n，k）。该技术广泛应用与微电子、平板显示、光电子、光伏、照明、光学及功能材料、生物技术等领域。

椭圆偏振光谱仪的优势：

• 无损分析技术
• 无样品制备
• 操作简单、分析速度快
• 无需参比测量
• 对超薄膜测量非常敏感，低至 1Å
• 适用于单层和多层薄膜测量
• 多层结构样品表征信息丰富（界面、粗糙度、梯度、各向异性等）
• 直接准确的获得光学常数（n，k）

与其它光学计量设备相比，椭偏仪的独特优势在于其操作简单，测试精度高，通过光学常数表征获得物理和材料信息。

椭偏仪是测量光学常数（n、k）的常用工具，光学常数的精度在10的负3次内。

通过光学常数可获得如下信息：

• 材料的电子特性，如带隙
• 吸收系数α
• 材料的光学梯度和各向异性