Babinet 的测角仪 (1839)

Copyright: Lebée Inventaire Général / École Polytechnique

由物理学家、天文学家雅克·巴比内特（ Jacques Babinet）设计的这款测角仪，能够测量光束穿过一个物体或某种物质时，由折射率的差异而引起的偏转角。这可以用来在矿物学等领域测量晶体的折射率及其晶轴的方向。