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这款仪器首次出现在1900年巴黎世界博览会上，由夏尔·法布里 (Charles Fabry ) 和阿尔弗雷德·珀罗 (Alfred Perot) 设计，由阿梅德·约宾 (Amédée Jobin) 制作。该器件基于光的干涉，由两块玻璃板和平行的光束分路器组成。能够以非常高的分辨率测量发光光谱。这种类型的干涉仪用于确定标准仪表，研究原子的超细结构，，特别是制造刻线光栅时候控制金刚石切刀的位置。