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本例使用拉曼和微区 XRF 技术对一块抛光的花岗岩切片进行了分析。其中,顶部的拉曼成像图以每点 2 秒的采集速度获得,图中给出了硫化亚铁(红色),二氧化硅 (绿色) 和正长石/斜长石(蓝色)的分布情况。
左下图是对上图的中心部分进行超快速 SWIFT™ 成像获得的分布图,总采集时间只有10 ms。右下图是对同一区域采用 XGT-7000 微区 XRF 分析仪进行成像分析获得的结果,其中 X 射线束的波长为 10 μm,每点采集时间为 3 ms。从 XRF 图像上可以看出样品中存在铁和硫(红色)、硅(绿色)和钾(蓝色)。
感谢 Dr George J. Havrilla(美国洛斯阿拉莫斯国家实验室)提供的数据。数据处理在 Jeremy Shaver(美国 Eigenvector Research Inc.)的帮助下进行。