IV型 消像差光栅

        IV型消像差光栅一般由两个点光源记录。因此光栅凹槽不再是直线和相互平行的,而是共焦双曲面或椭圆。光学设计人员可以通过优化两个点光源的位置、入射角度和臂长一定程度地将像差尤其像散和慧差降到最低。辅助的光学系统例如光栅,帮助光学设计人员灵活记录更多特殊凹槽图案和分布(我们的方法详见美国专利4842353"Diffraction apparatus with correcting grating and method of making," A.Thevenon等)。

        IV型消像差光栅已成为许多光谱系统选择的色散元件,因为他们不需要在仪器中添加其它光学系统来成像和聚焦。这些光栅被用于各种装置中,包括单色仪,摄谱仪和单谱仪(扫描摄谱仪)。

Type IV, Aberration Corrected Gratings

        应用这一技术,HORIBA Scientific为特殊应用设计了许多新型光栅:IV型消像差,平场和成像光栅:这些凹面光栅将入射狭缝过来的光线色散、准直和聚焦到一个平面上;这些光栅非常适于配合固态探测器使用,例如线阵或二维阵列独立光敏元件。

        IV型消像差、单色仪光栅:这些凹面光栅特别设计以配合入射狭缝和出射狭缝使用。波长扫描通过光栅的简单转动实现。

        用于真空紫外的变间距光栅(VLS光栅):用于远真空紫外和软X射线波段的光栅和反射镜须以闪耀角度入射来增强涂层的反射率。传统I型凹面光栅在闪耀角处有较大的像散,会导致仪器出射狭缝的信号通量降低。为了矫正这个难题中的像散和慧差,HORIBA Scientific 开发出特殊的全息消像差平面和凹面光栅,其线密度按照多项式定律变化(VLS光栅)。

        HORIBA Scientific 光学工程师将为您推荐一个标准IV型消像差光栅,或针对您的应用特别设计一款消像差光栅以实现最高性能。