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Figure 1 illustrates a GDOES depth profile on a multilayered polymer. The layers are distinguished by representative elements. No molecular information is obtained with GDOES but the observation of representative elements and/or changes in the intensity levels for the same elements anyhow clearly reveals in many cases the structure of the multilayered compound.
GD-OES 通过密集等离子体对材料的感兴趣的区域进行快速溅射，并对激发出来的溅射物质产生的特征光谱进行实时光学分析。
随着脉冲射频源的发展和“UFS”的发明，该技术可用于聚合物材料的开发和表征。添加剂可以被检测到到和定位，快速揭示材料的结构，因此可以用于控制和优化加工过程。
图 1 说明了多层聚合物上的 GD-OES 深度分布，通过代表性元素来区分层结构。虽然GD-OES 无法获得分子信息（可由拉曼光谱给出），但通过对代表性元素的观测和各元素随深度的强度变化（与材料的溅射速率变化相关），清楚地揭示了多层化合物的结构。
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