Utilizamos el XGT-9000 para detectar y analizar partículas extrañas en un material de batería de ion litio. Realizamos una muestra de simulación de cátodo NMC y añadimos partículas de Cu en la muestra como partículas metálicas extrañas simuladas. Las partículas de Cu podían detectarse mediante mapeo completo mediante una sonda de ultra alta intensidad de 100 μm (Figura1 (b) Cu). También podríamos obtener imágenes elementales de Co, Ni y Mn (Figura1 (b) Co, Ni, Mn), simultáneamente.
Realizamos un mapeo de pequeñas áreas usando una sonda de ultra alta intensidad de 15 μm en 6 minutos (dentro del cuadrado rojo, Figura 1 (a)). Para verificar si las cinco partículas en la imagen de mapeo son partículas de Cu, realizamos análisis puntuales según el resultado de mapeo ((1)~(5): partículas de Cu (6): referencia). La Figura 1 (d) muestra que los picos de Cu se encontraron en los espectros de (1) a (5), y no se encontró ningún pico de Cu en el espectro (6).
Figura 1. Imagen óptica (a) imagen óptica completa, (b) imágenes de mapeo elemental (Cu, Co, Ni, Mn) por sonda de ultra alta intensidad de 100 μm, (c) una imagen de mapeo elemental de la sonda de ultra alta intensidad de Cu por 15 μm, (d) resultado de análisis puntual de las partículas detectadas (1)~(6)
Utilizamos la función de detección de partículas para determinar la información morfológica de las partículas detectadas (Figura 2). La función de detección de partículas es eficaz para contar el número de partículas extrañas en una muestra, como los materiales de cátodo de baterías de ion litio. Extrae automáticamente partículas de una imagen y muestra la información de las partículas (número, coordenada, tamaño y relación de aspecto de las partículas). La relación de aspecto es importante para saber cuán nítida es una partícula extranjera. La mayor relación de aspecto significa que la forma de la partícula es como una aguja. En los materiales de baterías de ion litio, estas partículas en forma de aguja perforan fácilmente el separador y pueden ser una posible causa raíz de cortocircuitos. La función de detección de partículas ahorra tiempo y reduce el error humano en el análisis de partículas.
Figura 2. La morfología de una partícula
Figura 3. Resultado de detección de partículas de Cu
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Microscopio analítico de rayos X (Micro-XRF)


