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      • Spectroscopie d'émission optique à plasma à couplage inductif (ICP-OES)
        • Spectroscopie d'émission optique à plasma à couplage inductif (ICP-OES)
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        • Lecture n° E56 – Solutions analytiques pour les mégatendances
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        • Compte rendu n° E14 - Prix Masao HORIBA « Mesure des bioparticules » et « Mesure de la combustion interne »
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        • Lecture n° E11 - Les deuxièmes prix Masao Horiba
        • Compte rendu n° E10 - Technologies d'analyse environnementale pour la gestion de l'environnement mondial et le développement industriel
        • Compte rendu n° E09 - Le premier prix du Dr Masao Horiba et les produits du 50e anniversaire
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        • Compte rendu n° E06 - 50e anniversaire de HORIBA, Ltd. Produits et technologies du groupe HORIBA
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Spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente (GD-OES)ouvrir ouvrir
  • Spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente (GD-OES) I
  • Instrumentation GDOES RF pulsée
  • Produits utilisant la RF GDOES
    HORIBA»Technologie»Spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente (GD-OES) I

Qu'est-ce que la spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente SDL (GD-OES en anglais) ?

Analyse des couches minces et épaisses. Spectromètres à décharge luminescente RF pulsée.

Profilage de profondeur élémentaire ultra rapide

Les spectromètres de décharge luminescente RF pulsée HORIBA sont utilisés dans les universités où ils contribuent au développement de nouveaux matériaux avec des revêtements à l'échelle nanométrique et supérieure et dans les industries pour surveiller la fabrication de dispositifs photovoltaïques, pour comprendre l'origine de la corrosion sur les carrosseries peintes, pour évaluer la composition des métaux précieux, pour contrôler la fabrication de disques durs ou de LED, pour améliorer les batteries Li, etc.

La collaboration croisée avec la communauté de recherche sur les revêtements plasma avancés a contribué à améliorer considérablement l'instrumentation au cours des 15 dernières années, les normes ISO ont été publiées et la technique est désormais bien établie pour la caractérisation des matériaux.

La SDL RF pulsée est l'outil idéal pour étudier de la surface jusqu'à plus de 150 microns avec une résolution en profondeur pouvant atteindre 1 nm.


Profil de profondeur de composition d'une cellule solaire


La SDL RF pulsée répondra en quelques minutes, voire en quelques secondes, à de multiples questions telles que :

  • Quels éléments sont présents dans l'échantillon ?
  • À quels niveaux de concentration ?
  • L'échantillon est-il homogène en profondeur ?
  • Des revêtements ou des traitements de surface ont-ils été appliqués à l’échantillon ?
  • Quelle est l'épaisseur des revêtements ?
  • Y a-t-il une contamination à une interface ?
  • Une oxydation de l’échantillon ?
  • Une diffusion dans les revêtements ?

Revêtement PVD multicouche, preuve de contamination au carbone à l'interface


 

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