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Visualizing the distribution of structural defects and functional groups present on the surface of two-dimensional (2D) materials such as graphene oxide challenges the sensitivity and spatial resolution of most advanced analytical techniques.
AFM-Raman及其TERS模式，以10nm的空间分辨率显示了氧化石墨烯（GO）片表面结构缺陷和化学基团的纳米图谱分析。TERS图谱与KPFM测量相结合，用于GO表面的实时形貌学、电学和化学成像。这种多参数测量方法扩展了TERS的应用能力，展示了纳米尺度上局部的化学成分和物理性质的直接相关性，这不仅仅适用于2D材料，它几乎可以适用于任何样品表面。
纳米拉曼光谱仪
纳米拉曼光谱仪
AFM光学工作站
纳米拉曼光谱仪
多光路耦合纳米拉曼光谱仪
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