上图是对离散分布在硅片表面的碳纳米管进行拉曼成像获得的分布图，图中红色对应于硅峰的积分强度，绿色和蓝色分别是两条碳纳米管相应G峰的积分强度。

首先使用DuoScan™的大光斑成像模式找到这些分散的碳纳米管，然后采用DuoScan™的逐点扫描显微成像模式获得碳纳米管的高清晰图像。图中碳纳米管的表观宽度是碳纳米管直径和激光光斑尺寸的卷积。

感谢Dr Kalbac（Heyrovský Institute, Prague, Czech Republic）提供的样品。