HORIBA Scientific Espectrómetros de descarga fluorescente por RF pulsada se utilizan en universidades, donde contribuyen al desarrollo de nuevos materiales con recubrimientos a escala nano y en superiores, así como en industrias para monitorizar la fabricación de dispositivos fotovoltaicos, entender el origen de la corrosión en las carrocerías pintadas, evaluar la composición de metales preciosos, controlar discos duros o la fabricación de LEDs, para mejorar las baterías de Li, etc.
La colaboración cruzada con la comunidad avanzada de investigación en recubrimientos de plasma ha contribuido a mejorar drásticamente la instrumentación en los últimos 15 años, se han publicado normas ISO y la técnica está ahora bien establecida para la caracterización de materiales.
El GDOES RF pulsado es la herramienta ideal para investigar desde la superficie hasta más de 150 micras con una resolución de profundidad que puede llegar a 1 nm.
Perfil de profundidad composicional de una celda solar
El OES de GD con RF pulsado responde en minutos – incluso segundos a múltiples preguntas como:
Recubrimiento PVD multicapa, evidencia de contaminación por carbono en la interfaz