Conçu pour révolutionner l'analyse des grands échantillons et élargir vos applications
La série XGT-9000SL dispose d'une très grande capacité de chambre, jusqu'à 1 030 mm x 950 mm x 500 mm [l x P x H], et d'un grand plateau de 500 mm x 500 mm, qui permettent aux utilisateurs d'analyser de grands échantillons, tels que des peintures, des circuits imprimés de grande taille et des rotors de frein. Cet instrument est idéal pour manipuler facilement des échantillons aussi grands et les soumettre à une analyse élémentaire non destructive. Sa polyvalence permet également de placer plusieurs échantillons de petite taille sur le plateau pour des analyses séquentielles.
Deux types de détecteurs pour les rayons X fluorescents et les rayons X émis
La série XGT-9000SL propose deux types de détecteurs : un détecteur de rayons X fluorescents qui indique la distribution élémentaire d'un échantillon et un détecteur de rayons X émis qui indique la structure interne d'un échantillon. Le XGT-9000SL peut obtenir simultanément les deux types d'images de la même zone, ce qui est particulièrement utile pour mieux comprendre l'électronique, les pierres précieuses (y compris les inclusions) et les échantillons biologiques.
Imagerie simultanée d'une image élémentaire et d'une image des rayons X émis d'un circuit imprimé
(Gauche) L'image élémentaire en couches a révélé la présence d'un corps étranger sous la puce électronique. (Droite) L'image des rayons X émis a révélé la présence de nombreux vides sous la puce.
Protéger les utilisateurs contre l'exposition aux rayons X grâce à la chambre de protection avec bouclier
Le XGT-9000SL offre un niveau de protection maximal contre les rayons X (conforme aux normes CEI -61010-1/JAIMA S0101-2001). Grâce à 1) son bouclier transparent, les utilisateurs peuvent facilement observer et contrôler l'échantillon dans la chambre pendant une mesure, en toute sécurité. Le système comprend également 2) un indicateur d'irradiation sur le panneau avant, qui avertit les utilisateurs lorsque les rayons X sont actifs. En outre, les portes de la chambre du XGT-9000SL sont équipées de 3) verrous qui empêchent toute irradiation aux rayons X dans le cas improbable où un utilisateur ouvrirait accidentellement une porte alors que le système est en marche.
De nombreuses fonctions de sécurité pour protéger vos précieux échantillons contre les risques de collision
L'appareil intègre de nombreuses fonctions de sécurité pour assurer la protection de vos précieux échantillons :
- Calcul de la position du plateau : le logiciel peut calculer la position initiale de sécurité d'après la hauteur d'échantillon indiquée. Cela signifie que la platine se déplace vers le haut et s'arrête à la position optimale, limitant ainsi le risque de collision accidentelle avec l'optique ou d'autres composants sensibles.
- Capteur laser : le système peut détecter les interférences de vos échantillons à l'aide d'un capteur laser et arrêter le plateau avant que votre échantillon n'entre en contact avec l'optique, même si la hauteur d'échantillon indiquée est incorrecte.
- Verrouillage du plateau : la série XGT-9000SL est équipée d'un contrôleur de plateau avancé qui intègre une fonction de verrouillage du plateau en position de sécurité. Ainsi, même si un utilisateur commet une erreur de manipulation du plateau, celui-ci ne dépassera pas la position de sécurité définie.
Logiciel flexible et convivial
Le logiciel de la série XGT-9000SL est doté d'une interface extrêmement flexible et conviviale, qui permet de visualiser en un coup d'œil les arborescences des données, les images optiques, les résultats du spectre, le tableau périodique et les résultats de l'imagerie cartographique. Les utilisateurs peuvent également personnaliser la disposition de l'écran ou encore afficher les résultats sur plusieurs écrans, ce qui permet d'assurer une meilleure visibilité des résultats et d'améliorer l'analyse des données.
Il est possible d'ajouter des modules avancés aux fonctions standard de la suite logicielle pour une expérience utilisateur plus complète.
- Module FPM multicouche pour la mesure de l'épaisseur avec/sans échantillons standard
- Module RoHS pour le criblage RoHS
- Module de file d'attente pour les mesures multiples automatisées en mode sans surveillance
- Module de recherche de particules pour l'analyse des particules et l'analyse co-localisée
- Module LabSpec Link pour le transfert des données vers LabSpec 6 à des fins d'analyse multivariée
Exemples d'applications (en anglais)
