二维材料TERS、TEPL和SPM相关测量

本应用案例报道了未来纳米级电子和光电器件的高潜力半导体的二维材料（TMDCs）的纳米特性。扫描探针显微镜通过等离激元增强耦合光致发光（PL）和拉曼光谱技术，获得纳米尺度下的关键形貌信息和电子特性，从而产生纳米尺度下的相关电学和化学信息。