nanoPartica SZ-100V2

SZ-100V2

纳米粒度及Zeta电位分析仪

先进的分析仪器助您解开纳米世界的奥秘。只需单台设备就能表征纳米颗粒的三个参数:粒径、Zeta 电位和分子量。

纳米技术的研发是一个持续不断的过程,这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸,从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现更快的测量速度、更好的设备性能以及更低的设备运行能耗。纳米技术在日常生活中的诸如食品、化妆品和生命科学等很多领域发挥着关键作用。

简单快捷的纳米颗粒多参数分析!

一台设备、三种功能,可对每个测量参数进行高灵敏度、高精度的分析。

事业部: 科学仪器
产品分类: 颗粒表征
制造商: HORIBA, Ltd.

粒径测量范围0.3 nm ~ 10 µm

SZ-100V2 系列采用动态光散射 (DLS) 原理测量颗粒粒径大小及分布,实现了超宽浓度范围的样品测量,该系列可准确测量低至ppm 级低浓度、高至百分之几十的高浓度样品。可使用市售的样品池,也可实现对小体积样品的测量。

Zeta 电位测量范围– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta电位样品池测量Zeta 电位值只需样品100 μL,通过Zeta电位可预测和控制样品的分散稳定性。Zeta 电位值越高,则意味着分散体系越稳定,这对于产品配方的研究工作具有重大的意义。

分子量测量范围1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通过测量不同浓度下的静态光散射强度并通过德拜记点法计算样品的绝对分子量 (Mw) 和第二维里系数 (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的复杂信息处理能力和学习能力,可快速确定纳米颗粒的特性!

  • SZ-100V2 系列具有双光路设计,既可以测量高浓度的样品,如浆体和染料;同时也可以用于测量低浓度样品,如蛋白质、聚合物等。

  • 使用单台设备即可表征纳米颗粒的三大参数——粒径、Zeta 电位和分子量

  • HORIBA研发的Zeta 电位样品池可防止样品对其造成污染。样品池容量(最低容量100 μL)小适用于稀释样品的分析。

  • HORIBA研发的Zeta 电位样品池的电极由碳材料制成,该材料不会受到盐溶液等高盐样品的腐蚀。

SZ-100-S2 测量规格

型号SZ-100-S2(仅限粒径和分子量测量)
测量原理粒度测量:动态光散射
分子量测量:德拜记点法(静态散射光强度)
测量范围粒径:0.3 nm 至 10 μm
分子量:1000 至 2 × 10 7 Da(德拜记点)
                             540 至 2× 10 7 Da(MHS 方程)*1
最大样品浓度

40%*2

粒度测量精度

以100 nm的聚苯乙烯乳胶球体为例,其测量精度为 ±2% (不包括标准颗粒本身的变化)

测量角度

90°和173°(自动或手动选择)

样品池比色皿
测量时间常规条件下约 2分钟(从测量开始到显示粒度测量结果)
所需样品量12 μL *3至 1000 μL(因比色皿材料而异)
分散剂水、乙醇、有机溶剂

*1:Mark-Howink-Sakurada 方程,取决于样本。
*2:取决于样品。
*3:F 微型电池。

 

SZ-100-Z2 测量规格(粒度和分子量测量规格与 SZ-100-S2 相同。)

型号SZ-100-Z2(带Zeta电位测量单元)
测量原理Zeta 电位测量:激光多普勒电泳
测量范围-500 至 +500 mV
适合测量的尺寸范围最小 2.0 nm,最大 100 μm *4
测量电导率范围0 至 20 S/m*5
最大样品浓度40% *6
样品池石墨电极电位样品池
测量时间常规条件下约 2分钟
所需样品量100 μL
分散剂

*4:取决于样品。
*5:推荐的样品电导率范围:0 到 2 S/m。
*6:取决于样品。

 

仪器规格(SZ-100-S2 SZ-100-Z2

测量单元光学系统光源:二极管泵浦倍频激光器(532 nm,S2 / Z2 10 mW,HS2 / HZ2 100 mW)
检测器:光电倍增管(PMT)
激光分类一级
工作温度和湿度15 - 35 °C,RH 85% 或更低(无冷凝)
支架温度控制温度设置0 - 90 °C(石墨电极电位样品池控温最高可达 70 °C)
吹扫可以连接干燥气体吹扫端口管。
电源供应交流 100 - 240 V,50/60 Hz,150 VA
外观尺寸528 (W) x 385 (D) x 273 (H) mm(不包括突出部分)
重量25 kg
电脑带有一个可用 USB 端口的 Windows 计算机
界面USB 2.0(测量单元和 PC 之间)
操作系统

Windows® 10 32/64 位


尺寸(毫米)

 


附件

粒径测量样品池

 单元名称最小音量溶剂
A一次性样品池1.2 mL水性
B半微量池500 µL水性,非水性
C玻璃池1.2 mL水性,非水性
D一次性半微量池600 µL水性
E样品池(带盖)1.2 mL水性,非水性
F微量池(仅侧面检测)12 µL水性,非水性
G亚微量池200 µL水性,非水性
H流动池100 µL水性,非水性

 

Zeta电位样品池

Zeta potential cells
用于水相测量的石墨电极电位样品池, 每盒20个,每个样品池体积为 100 µL。

Disposable zeta potential cells
有机溶剂电位样品池,体积为100 µL

蛋白质的 Zeta 电位
蛋白质的 Zeta 电位
在本简报中介绍了 SZ-100 的测量数据,通过碳涂层电极电位槽,可有效地对蛋白质的Zeta电位进行测量。
聚电解质的Zeta电位
聚电解质的Zeta电位
聚乙烯亚胺 (PEI) 的Zeta 电位是使用 SZ-100 纳米粒子分析仪进行测量的。带电聚合物即聚电解质可以使用 SZ-100 进行分析。
粘土Zeta电位测量在废水处理中的应用
粘土Zeta电位测量在废水处理中的应用
在本说明中,分析了混凝剂选择和浓度对悬浮粘土处理的影响。
香精乳液的2种粒径测量方法比较
香精乳液的2种粒径测量方法比较
现如今有两种光学技术可用于表征乳液,即激光衍射法和动态光散射法。 这两种分析技术都具有快速可靠的优点。 然而,由于分析原理的差异,对于同一种样本进行分析会获得不同的结果。
利用Zeta电位优化废水处理
利用Zeta电位优化废水处理
悬浮固体是工业和采矿作业废水中的常见杂质。为了使水清澈,常用方法是沉降处理。这些过程的持续时间与悬浮颗粒的粒度分布紧密相关。因此,如果可以使颗粒聚集,则沉降过程更短,处理操作更快且成本更低。
通过DLS测定二氧化硅颗粒的尺寸
通过DLS测定二氧化硅颗粒的尺寸
在本应用说明中,分析了两种不同二氧化硅分散体的粒径,以证明 SZ-100 对此类材料的供应商和用户的实用性。
纳米粒子分析
纳米粒子分析
纳米技术极其多样化,从传统器件物理的新扩展到基于分子自组装的全新方法,再到开发具有纳米级尺寸的新材料。与宏观尺度相比,缩小到纳米尺度的材料可以表现出不同的特性,从而实现独特的应用。

留言咨询

如您有任何疑问,请在此留下详细需求信息,我们将竭诚为您服务。 * 这些字段为必填项。

Related products

nanoPartica SZ-100V2
More nanoPartica SZ-100V2

纳米粒度及Zeta电位分析仪

ViewSizer 3000
More ViewSizer 3000

多激光纳米颗粒追踪分析仪 (NTA)

nanoPartica SZ-100V2
More nanoPartica SZ-100V2

纳米粒度及Zeta电位分析仪

Partica CENTRIFUGE CN-300
More Partica CENTRIFUGE CN-300

离心式粒度分析仪

Partica LA-960V2
More Partica LA-960V2

激光粒度分析仪

Partica mini LA-350
More Partica mini LA-350

激光粒度分析仪

PSA300*
More PSA300*

Static Image Analysis System Particle Size

ViewSizer 3000
More ViewSizer 3000

多激光纳米颗粒追踪分析仪 (NTA)

nanoPartica SZ-100V2
More nanoPartica SZ-100V2

纳米粒度及Zeta电位分析仪

PD Xpadion
More PD Xpadion

Reticle / Mask Particle Detection System

Corporate