HORIBA 射频辉光放电光谱仪  GD-Profiler 2™ ，助力解决固体氧化物燃料电池（SOFC）与固体氧化物电解池（SOEC）在研发及生产阶段的核心难题。

固体氧化物燃料电池（SOFC）与固体氧化物电解池（SOEC）技术正加速迈向商业化，缩短开发周期、实现工业化量产的问题愈发突出。制造商需同步优化材料性能、扩大产能、提升器件寿命，并依托现场反馈持续迭代技术。

辉光放电光谱仪 GD-Profiler 2™（GD-OES）是强有力的分析利器，可支撑 SOFC、SOEC 全产业链各环节的质量管控、失效分析与对标评测。仪器搭载脉冲射频（RF）技术，仅需数分钟即可获得高分辨多层元素深度剖析图谱，直观呈现多层结构电池内部真实组分分布，助力研发团队高效研判、快速决策。

深度剖析 SOFC 与 SOEC ， 探索  GD-Profiler 2™ 燃料电池性能测试解决方案

• 生产经理： 在大规模制造中确保多层电池（电芯）的质量一致性。
   
• 机械与工艺工程师：解决诸如铬中毒、直接内重整过程中的积碳以及其他衰减机制等问题。
   
• 产品经理：寻求快速、数据驱动的洞察，以进行基准测试（对标分析）。
   
• 研发工程师：分析催化剂迁移、分层或阻挡层形成等衰减机制。
   
• 技术创新人员：开发下一代固体氧化物（SO）技术，包括中温系统和质子陶瓷电池（PCCs）。

GD-Profiler 2™ GD-OES 的技术特点与优势：

• 可测量从氢到铀的轻元素和重元素浓度
  • 包括关键的 SOFC 和 SOEC 材料：Y、Zr、Sc、Gd、Ce、Sr、Ni、C、O、La、Co、Cr、Sm 等。
     
• 脉冲式和同步式射频技术
  • 具有高瞬时功率的脉冲射频源，可实现快速样品溅射；通过与脉冲同步采集发射信号，提高信噪比，从而分析多层结构全深度的元素组成。
     
• 对所有固体样品进行多功能分析，并快速获得结果
  • 仅需平整的固体样品。几分钟内即可生成完整、高质量的分析结果。
     
• 获得专利^*的差分干涉测高技术（DiP）
  • 可实现纳米级直接深度测量，并同时测定元素浓度。
     
• 高动态范围探测器（HDD）
  • 自动优化发射灵敏度，可在单层完成痕量元素检测，同时对相邻层开展主元素定量分析，两项性能兼得。

* DIP 专利号: CN 106662531 A