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缺陷/雜質監測

缺陷/雜質監測

光致發光方法可以以非破壞性、非接觸的方式評估化合物半導體的組成、缺陷、雜質、結晶度。 在半導體中,它用於分析矽中的微量雜質。

憑藉光譜儀製造商獨有的客製化能力,我們可以滿足從基礎研究到品質檢查繪圖測量的廣泛需求。

LabRAM HR Evolution
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LabRAM Soleil
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Multimodal Confocal Raman Microscope

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XGT-9000
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XGT-9000SL
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