光致發光方法可以以非破壞性、非接觸的方式評估化合物半導體的組成、缺陷、雜質、結晶度。 在半導體中，它用於分析矽中的微量雜質。
憑藉光譜儀製造商獨有的客製化能力，我們可以滿足從基礎研究到品質檢查繪圖測量的廣泛需求。
Confocal Raman Microscope
Raman Spectroscope - Automated Imaging Microscope
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X-ray Analytical Microscope (Micro-XRF)
X-ray Analytical Microscope
with a Super Large Chamber
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