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紅外線測量

利用紅外光譜技術即時分析氣體成分

紅外線測量技術用途廣泛。既可用於檢測固體物體反射的紅外線輻射,也可用於檢測氣體的吸收。這些方法使客戶能夠獲取物體的溫度和狀態訊息,吸收法還可以測量氣相物質的濃度。紅外線測量技術具有高精度和高穩定性,廣泛應用於包括半導體在內的多個領域。

非色散紅外線吸收光譜儀(NDIR)

我們的氣體分析技術利用紅外線吸收來實現穩定的濃度測量,有助於優化腔室清潔時間並減少清潔氣體消耗——這對於減少溫室氣體排放至關重要(GHG)。

紅外線雷射吸收調整 (IRLAM)

HORIBA獨家的紅外線雷射吸收調整的技術“IRLAM™,” 可實現氣體即時、製程內監測。能夠高靈敏度、高速地測量ppb級低濃度氣體。

紅外線和輻射溫度計

IT-270 採用非接觸式高精度紅外線技術測量物體表面溫度。

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