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HORIBA 提供用於監測半導體製造過程中所用化學品濃度、控制清洗用水(即超純水)純度以及廢水處理的測量儀器。從高性能半導體的生產到環境保護的廢水處理,HORIBA 以其尖端的測量技術為半導體製造流程和設施提供支援。
一種透過測量光線穿過樣品時依據被吸收的量來檢測濃度的方法。
一種透過測量溶液電位來確認pH值的方法。
一種透過測量溶液中的離子來確定離子濃度的方法。
將電極放入溶液中以確定電流流動難易程度的方法。
此方法也稱為隔膜電極法或隔膜化學電極法,其原理是向電極增加電壓,並透過測量電流的大小來確定目標成分的濃度,電流的大小取決於溶液的組成。
一種將光穿過溶液,並根據光的吸收程度來確定目標成分濃度的方法。